[发明专利]缺陷检测系统及方法

说明书

一种用于检测被移送的光学薄膜的缺陷检测系统，包括光源、影像捕获设备及狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。

技术领域

本发明是有关于一种光学检测系统及方法，且特别是有关于一种光学薄膜的缺陷的检测系统及方法。

背景技术

随着科技的进步，对于液晶显示设备所运用的各种光学组件的要求亦高。然而，于光学元件的生产过程中，却容易因各种因素而产生瑕疵，进而降低显示质量。因此，在光学元件的生产系统中配置有缺陷的检测系统，以及早排除具有缺陷的光学元件。

发明内容

本发明有关于一种缺陷检测系统及方法，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线，当光线照射到光学薄膜上的凹凸缺陷时会产生散射，故偏移配置的影像捕获设备可接收凹凸缺陷所产生的散射光线，借以提升影像捕获设备所拍摄的缺陷区域的影像对比。

根据本发明的一实施例，提出一种缺陷检测系统，用于检测被移送的一光学薄膜。缺陷检测系统包括一光源、一影像捕获设备以及一狭缝板。光源配置于光学薄膜的一侧。影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。狭缝板具有一狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使一入射光线穿过狭缝。其中，影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。

其中，该入射光线垂直地射入该光学薄膜。

其中，该狭缝的宽度为1.5～2.5毫米。

其中，当该影像捕获设备的影像传感器对准于该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I₀；当该影像捕获设备于平行该光学薄膜的移动方向上偏移自该光源与该狭缝的延伸连线时，所感测出的影像亮度为I₁；其中，I₁/I₀为0.5～0.9能够观测该光学薄膜的一缺陷位置点。

其中，该缺陷检测系统更包括：一移动单元，用以于平行该光学薄膜的移动方向上移动该影像捕获设备。

根据本发明的另一实施例，提出一种用于检测被移送的一光学薄膜的缺陷检测方法。缺陷检测方法包括以下步骤。提供一光源，光源配置于光学薄膜的一侧。提供一影像捕获设备，影像捕获设备配置于光学薄膜的另一侧。提供一狭缝板，狭缝板具有一狭缝，狭缝板配置于光源与光学薄膜之间，以使一入射光线穿过狭缝。接着，使影像捕获设备偏移自光源与狭缝的延伸连线。

其中，于提供该光源及该狭缝板的步骤中，使该入射光线垂直地射入该光学薄膜。

其中，该狭缝的宽度为1.5～2.5毫米。

其中，该缺陷检测方法更包括：

提供一移动单元，该移动单元于该光学薄膜的移动方向上移动该影像捕获设备。

其中，该缺陷检测方法更包括：

提供一图像处理单元，该图像处理单元接收并处理该影像捕获设备所发送的影像信号；

提供一周期信号产生单元，该周期信号产生单元依据该光学薄膜的移送速度发送一周期信号；以及

提供一控制单元，该控制单元耦接于该图像处理单元，并接收来自该周期信号产生单元的该周期信号，以及对该影像捕获设备传输摄像信号。

附图说明

为了对本发明的上述及其他方面有更佳的了解，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：

图1绘示依照本发明一实施例的缺陷检测系统。

图2绘示图1的缺陷检测系统的俯视图。

其中，附图标记：