[发明专利]分析装置有效

专利信息
申请号: 201680087362.6 申请日: 2016-06-28
公开(公告)号: CN109416342B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 上田学;渡边淳 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N30/72;G01N30/86
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 使在LC‑MS中因流动相、其中添加的试剂等的影响而在以往无法检测的微量成分的检测也成为可能。首先,执行空白测定,在由此得到的质谱上提取基于流动相等的背景信号的m/z值MBG(S2‑S4)。然后,制作用于执行从规定的m/z范围排除背景信号的m/z值MBG所得到的多个被分割出的m/z范围的扫描测定的分析方法,按照该分析方法执行目标试样的LC/MS分析(S5‑S6)。当根据由此得到的数据制作总离子色谱(TIC)时,该TIC中几乎不出现背景信号的影响,基线变低。于是,在该TIC上检测杂质峰(S7),若存在峰,则根据该峰附近的质谱确定杂质的m/z(S8‑S11)。
搜索关键词: 分析 装置
【主权项】:
1.一种分析装置,能够通过按照包含分析条件的分析方法执行分析,来获取遍及针对规定参数的规定值范围的谱,所述分析装置的特征在于,具备:a)背景信息存储部,其事先存储在分析时出现的背景信号的参数值;以及b)分析方法制作部,其在设定了一个或多个参数值或参数值范围作为所述分析条件之一时,制作将从该参数值或参数值范围排除存储于所述背景信息存储部的参数值所得到的一个或多个参数值或参数值范围作为分析对象的分析方法。
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