[发明专利]分析装置有效
| 申请号: | 201680087362.6 | 申请日: | 2016-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN109416342B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
| 发明(设计)人: | 上田学;渡边淳 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N30/72;G01N30/86 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 分析 装置 | ||
1.一种分析装置,包括质谱分析装置,该质谱分析装置能够通过按照包含分析条件的分析方法执行分析,来获取遍及规定质荷比值范围的谱,所述分析装置利用该质谱分析装置检测通过色谱仪在时间上分离出的成分,所述分析装置的特征在于,具备:
a)背景信息存储部,其事先存储在分析时出现的背景信号的质荷比值;
b)分析方法制作部,其在无需对目标试样进行分析而设定了一个或多个质荷比值或质荷比值范围作为所述分析条件之一时,制作将从该质荷比值或质荷比值范围排除存储于所述背景信息存储部的质荷比值所得到的一个或多个质荷比值或质荷比值范围作为分析对象的分析方法;
c)色谱获取部,其基于通过按照所述分析方法针对目标试样进行分析所得到的结果,来制作总离子色谱;以及
d)峰检测部,其检测所述总离子色谱上的信号强度相对于该总离子色谱上的主峰的信号强度为规定比例的阈值以上的峰。
2.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
所述峰检测部是检测信号强度相对于主峰的信号强度为规定比例的阈值以上的峰来作为与所述目标试样中含有的杂质对应的杂质峰的杂质检测部。
3.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
还具备背景信息获取部,该背景信息获取部基于通过进行空白分析所得到的结果,来提取背景信号的质荷比值并存储到所述背景信息存储部。
4.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
所述背景信息存储部为存储有各种条件下的背景信号的质荷比值的数据库。
5.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
所述分析方法制作部在设定了作为所述分析条件之一的重复分析对象的一个或多个质荷比值或质荷比值范围时,制作将从该质荷比值或质荷比值范围排除存储于所述背景信息存储部的质荷比值所得到的质荷比值或质荷比值范围作为重复分析对象的分析方法。
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