[发明专利]颗粒状物质的测定装置用部件及其制造方法在审
申请号: | 201680069071.4 | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN108291885A | 公开(公告)日: | 2018-07-17 |
发明(设计)人: | 村松大树;村元康人;井上将吾 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘文海 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 颗粒状物质的测定装置用部件具备:由陶瓷构成且在内部具有供气体流动的流路的基部;以将所述流路分割成多个的方式设置在所述流路的内部且由多孔质陶瓷构成的过滤部;以及以夹着所述过滤部的方式设置于所述基部的静电电容形成用的一对电极,所述基部的所述流路的壁面比所述过滤部的表面致密。 | ||
搜索关键词: | 流路 基部 过滤 颗粒状物质 测定装置 方式设置 多孔质陶瓷 表面致密 静电电容 供气体 电极 壁面 陶瓷 分割 流动 制造 | ||
【主权项】:
1.一种颗粒状物质的测定装置用部件,其特征在于,具备:基部,所述基部由陶瓷构成,且在内部具有供气体流动的流路;过滤部,所述过滤部以将所述流路分割成多个的方式设置在所述流路的内部,且由多孔质陶瓷构成;以及静电电容形成用的一对电极,所述一对电极以夹着所述过滤部的方式设置于所述基部,所述基部的所述流路的壁面比所述过滤部的表面致密。
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