[发明专利]电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器以及电子设备有效
申请号: | 201680048510.3 | 申请日: | 2016-06-21 |
公开(公告)号: | CN107924252B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 滨口睦;宫本雅之;新庄信次 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飞亚;习冬梅 |
地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 通过简单的结构来检测触摸面板上的电容分布。通过控制线(DSS(0)至DSS(K‑1)),导通基于代码序列从多个驱动感测开关元件(DST)中选择出的驱动感测开关,并以第一电位对驱动感测线(DS0至DS(M‑1))进行驱动。然后,读出基于各检测电极(E)的电荷的线性和信号。 | ||
搜索关键词: | 电容 检测 方法 位置 触摸 面板 控制器 以及 电子设备 | ||
【主权项】:
一种电容检测方法,用于检测配置成矩阵状的多个电极与检测对象之间的电容或者电容变化,其特征在于包括:第一驱动工序,通过在与第一方向交叉的第二方向上排列的多个控制线,导通基于代码序列从各电极与在所述矩阵的所述第一方向上排列的多个信号线之间的多个开关元件中选择出的开关元件,并以第一电位驱动所述多个信号线;读出工序,在所述第一驱动工序之后,导通所有的所述多个开关元件,并沿着所述信号线读出基于各电极的电荷的线性和信号;以及检测工序,通过所述线性和信号与所述代码序列的积和运算检测所述电容或者电容变化。
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