[发明专利]电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器以及电子设备

说明书

通过简单的结构来检测触摸面板上的电容分布。通过控制线(DSS(0)至DSS(K‑1))，导通基于代码序列从多个驱动感测开关元件(DST)中选择出的驱动感测开关，并以第一电位对驱动感测线(DS0至DS(M‑1))进行驱动。然后，读出基于各检测电极(E)的电荷的线性和信号。

技术领域

本发明涉及使用了对多个电极和检测对象之间的电容或者电容变化进行检测的触摸面板的电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器以及电子设备。

背景技术

专利文献1中公开了使用了对多个电极和检测对象之间的电容或者电容变化进行检测的触摸面板的电容检测方法。

图11是表示以往的触摸面板系统的结构的电路图。触摸面板92具备互相隔开间隔地以4行3列配置成矩阵状的12个检测电极E。被耦合到各检测电极E的感测线S与读出电路95连接。

在使用了如上构成的触摸面板92的电容检测方法中，读出电路95通过对应的感测线S读出与各检测电极E与检测对象之间的静电电容对应的信号。然后，检测出上述静电电容或者静电电容变化在触摸面板92上的分布。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本国公开专利公报“特开2015-32234号公报(2015年2月16日公开)”

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，如图11所示的上述现有技术中，为了检测出静电电容或者静电电容变化在触摸面板92上的分布，必须从触摸面板92的所有检测电极E向读出电路95引出感测线S。因此，在决定了触摸面板的大型化的情况下，存在感测线S的配线电阻增大，读出电路95的信道的数量(感测线S的条数)与检测电极E的行数和列数的相乘结果成比例而变得庞大，触摸面板系统的结构变得复杂的问题。

本发明的目的如下：提供通过简单的结构能够检测出触摸面板上的各检测电极与检测对象之间的电容分布的电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器以及电子设备。

解决问题的手段

为了解决上述课题，本发明的一个形态所涉及的电容检测方法，是用于检测配置成矩阵状的多个电极与检测对象之间的电容或者电容变化的电容检测方法，该电容检测方法包括：第一驱动工序，通过在与第一方向交叉的第二方向上排列的多个控制线，导通基于代码序列从各电极与在所述矩阵的所述第一方向上排列的多个信号线之间的多个开关元件中选择出的开关元件，并以第一电位驱动所述多个信号线；读出工序，在所述第一驱动工序之后，导通所有的所述多个开关元件，并沿着所述信号线读出基于各电极的电荷的线性和信号；以及检测工序，通过所述线性和信号与所述代码序列的积和运算(乘积运算)检测所述电容或者电容变化。

此外，本发明的一个形态所涉及的位置检测方法，是对检测对象在触摸面板上的位置进行检测的位置检测方法，该触摸面板用于检测配置成矩阵状的多个电极与所述检测对象之间的电容或者电容变化，该位置检测方法包括：所述电容检测方法；以及位置检测工序，根据由所述检测工序检测出的所述电容或者电容变化，检测所述检测对象在所述触摸面板上的位置。

此外，本发明的一个形态所涉及的触摸面板控制器，是对触摸面板进行控制的触摸面板控制器，该触摸面板用于检测配置成矩阵状的多个电极与检测对象之间的电容或者电容变化，该触摸面板控制器具备：驱动电路，通过在与第一方向交叉的第二方向上排列的多个控制线，导通基于代码序列从各电极与在所述矩阵的所述第一方向上排列的多个信号线之间的多个开关元件中选择出的开关元件，并以第一电位驱动所述多个信号线；读出电路，导通所有的所述多个开关元件，并沿着所述信号线读出基于各电极的电荷的线性和信号；以及检测电路，通过所述线性和信号与所述代码序列的积和运算检测所述电容或者电容变化。

此外，本发明的一个形态所涉及的电子设备具备所述触摸面板控制器。