[发明专利]电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器以及电子设备

权利要求书

1.一种电容检测方法，用于检测配置成矩阵状的多个电极与检测对象之间的电容或者电容变化，其特征在于包括：

第一驱动工序，通过在与第一方向交叉的第二方向上排列的多个控制线，导通基于代码序列从各电极与在所述矩阵的所述第一方向上排列的多个信号线之间的多个开关元件中选择出的开关元件，并以第一电位驱动所述多个信号线；

读出工序，在所述第一驱动工序之后，导通所有的所述多个开关元件，并沿着所述信号线读出基于各电极的电荷的线性和信号；以及

检测工序，通过所述线性和信号与所述代码序列的积和运算检测所述电容或者电容变化。

2.根据权利要求1所述的电容检测方法，其特征在于，

所述多个电极和所述多个开关元件形成于触摸面板。

3.根据权利要求1所述的电容检测方法，其特征在于，

所述多个电极形成于触摸面板，

所述多个开关元件形成于用于控制所述触摸面板的触摸面板控制器。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的电容检测方法，其特征在于，

还包括第二驱动工序，通过所述控制线，导通基于所述代码序列从所述多个开关元件中选择出的其它开关元件，并以与第一电位不同的第二电位驱动所述多个信号线，

在所述读出工序中，在所述第一驱动工序及所述第二驱动工序之后，导通所有的所述多个开关元件，并沿着所述信号线读出基于各电极的电荷的线性和信号。

5.根据权利要求4所述的电容检测方法，其特征在于，

在所述第一驱动工序中，导通基于代码序列的第一值选择出的开关元件，

在所述第二驱动工序中，导通基于所述代码序列的与所述第一值不同的第二值选择出的开关元件。

6.根据权利要求5所述的电容检测方法，其特征在于，

所述第一值是用于将所述信号线从基准电位驱动至第一电位的要素“1”，

所述第二值是用于将所述信号线从所述基准电位或者其它基准电位驱动至第二电位的要素“-1”，

所述代码序列是包括要素“1”和要素“-1”的代码序列，且以第i列的要素“1”的数量和要素“-1”的数量之差接近0的方式取得平衡，其中1≤i≤N。

7.根据权利要求5所述的电容检测方法，其特征在于，

所述第一值是用于将所述信号线从基准电位驱动至第一电位的要素“1”，

所述第二值是用于将所述信号线从所述基准电位或者其它基准电位驱动至第二电位的要素“-1”，

所述多个控制线是K条控制线，其中K为多个，

所述代码序列由K行构成，该K行是从包括要素“1”和要素“-1”的P行N列的其它代码序列的P行中，其中K≤N、且K≤P，以第i列的要素“1”的数量和要素“-1”的数量之差接近0的方式取得平衡而选择出的，其中1≤i≤N。

8.根据权利要求1至3中任一项所述的电容检测方法，其特征在于，

在所述读出工序中，对沿着所述信号线中的1条的线性和信号与沿着所述信号线中另外1条的其它线性和信号之间的差分进行读出。

9.根据权利要求1至3中任一项所述的电容检测方法，其特征在于，

在所述读出工序中，对基于包括所述信号线中的多条的群组的线性和信号与基于包括所述信号线中的另外多条的其它群组的其它线性和信号之间的差分进行读出。

10.一种位置检测方法，对检测对象在触摸面板上的位置进行检测，该触摸面板用于检测配置成矩阵状的多个电极与所述检测对象之间的电容或者电容变化，其特征在于，包括：

权利要求1至9中任一项所述的电容检测方法；以及

位置检测工序，根据由所述检测工序检测出的所述电容或者电容变化，检测所述检测对象在所述触摸面板上的位置。