[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201680041214.0 申请日: 2016-07-04
公开(公告)号: CN107851631B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 好田慎一;木村润一;臼井良辅;小仓智英;渡边厚司 申请(专利权)人: 松下知识产权经营株式会社
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/36;H05K7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李国华
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 具有安装在金属层的所述半导体元件、设置在半导体元件的第一~第三连接端子、与所述第一连接端子接合的第一汇流条、以及与所述第二连接端子接合的第二汇流条。所述半导体元件与金属层接合,在所述半导体元件的上表面配置所述第一~第三连接端子。所述第一汇流条的一端与所述第一连接端子接合,所述第一汇流条的另一端是输出部,所述第二汇流条的一端与所述第二连接端子接合,所述第二汇流条的另一端与所述金属层接合。所述半导体元件的所述第一面与所述第二汇流条是相同电位。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,具备:作为导电体的金属层;半导体元件,安装在所述金属层的第一面;第一连接端子,其设置在所述半导体元件;第二连接端子,其设置在所述半导体元件;第三连接端子,其设置在所述半导体元件;第一汇流条,其与所述第一连接端子接合;以及第二汇流条,其与所述第二连接端子接合,所述半导体元件的第一面与所述金属层的所述第一面接合,在所述半导体元件的第二面配置所述第一连接端子、所述第二连接端子以及所述第三连接端子,所述第一汇流条的一端与所述第一连接端子接合,所述第一汇流条的另一端是输出部,所述第二汇流条的一端与所述第二连接端子接合,所述第二汇流条的另一端与所述金属层接合,所述半导体元件的所述第一面与所述第二汇流条是相同电位。
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