[发明专利]电子元器件的电气特性测定方法以及电气特性测定装置在审
| 申请号： | 201680019744.5 | 申请日： | 2016-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN107430160A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 冈野慎介 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01R35/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 熊风,宋俊寅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具备高测定精度的电子元器件的电气特性测定方法。其包括预先生成使测定端子和外部电极抵接时的荷重的大小、与电气特性的测定误差量之间的关系式的步骤；使测定端子和电子元器件的外部电极抵接，并利用测定器检测流过电子元器件的电信号，来测定电子元器件的电气特性并得到测定电气特性，同时利用荷重传感器测定该抵接时的荷重的大小并得到荷重值的步骤；以及基于关系式，根据荷重值的大小，来对测定电气特性进行校正的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 电气 特性 测定 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
一种电气特性测定方法，是使测定端子和电子元器件的外部电极抵接，并利用与所述测定端子相连接的测定器检测流过所述电子元器件的电信号，来测定所述电子元器件的电气特性的电气特性测定方法，其特征在于，包括：预先生成使所述测定端子和所述外部电极抵接时的荷重的大小与电气特性的测定误差量之间的关系式的步骤；使所述测定端子和所述电子元器件的所述外部电极抵接，并利用所述测定器检测流过所述电子元器件的电信号，来测定所述电子元器件的电气特性并得到测定电气特性，同时利用荷重传感器测定所述抵接时的荷重的大小并得到荷重值的步骤；以及基于所述关系式，根据所述荷重值的大小，来对所述测定电气特性进行校正的步骤。
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