[实用新型]发光元件检测设备有效
| 申请号： | 201621445048.4 | 申请日： | 2016-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN206460132U | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 黄士峰;余承颖;吴上义 | 申请（专利权）人： | 联京光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 陈小雯 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种发光元件检测设备，用于检测发光元件。发光元件包括彼此叠置的第一部分结构与第二部分结构。发光元件检测装置包括载台以及夹具。载台包括承载面以及凹设于承载面的凹槽结构。承载面用以承载发光元件，凹槽结构具有容置空间。夹具可移动地配置于载台的一侧。夹具沿着第一轴向移动而进入容置空间内，进而抵靠发光元件的第一部分结构与第二部分结构的其中之一。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 元件 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种发光元件检测设备，用于检测一发光元件，该发光元件包括彼此叠置的第一部分结构与第二部分结构，其特征在于，该发光元件检测装置包括：载台，包括承载面以及凹设于该承载面的凹槽结构，该承载面用以承载该发光元件，该凹槽结构具有容置空间；以及夹具，可移动地配置于该载台的一侧，该夹具沿着一第一轴向移动而进入该容置空间内，进而抵靠该发光元件的该第一部分结构与该第二部分结构的其中之一。
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