[实用新型]发光元件检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，尤其是涉及一种发光元件的检测设备。

背景技术

为了确保出厂的发光二极管芯片的元件品质，在发光二极管芯片的生产流程中包括许多测试步骤以测试产品的性能是否符合出厂规格，例如亮度测试。以亮度测试而言，会采用破坏性的探针分别接触发光二极管芯片的正负极以点亮发光二极管芯片，进一步获得其亮度的数据。

进行亮度测试时，为了避免探针所产生的推力造成发光二极管芯片移动，会利用夹具来对发光二极管进行固定，使之不会因为探针的推挤而移动。夹具将发光二极管芯片固定后，夹具会直接接触于发光二极管芯片的下层硬性材料以及上层软性材料，夹具经反复操作后，夹具与硬性材料的接触面会有磨耗以及损坏的情形产生，导致夹具与软性材料的接触面积变大，最后造成发光二极管的上层软性材料受到挤压而损坏。因此，如何针对上述问题进行改善，实为本领域相关人员所关注的焦点。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种发光元件检测设备，其可在检测发光元件的过程中，保护发光元件的结构不被破坏。

本实用新型的其他目的和优点可以从本实用新型所公开的技术特征中得到进一步的了解。

为达上述目的，本实用新型提供一种发光元件检测设备，用于检测发光元件，发光元件包括彼此叠置的第一部分结构与第二部分结构，发光元件检测装置包括载台以及夹具。载台包括承载面以及凹设于承载面的凹槽结构。承载面用以承载发光元件，凹槽结构具有容置空间。夹具可移动地配置于载台的一侧，夹具沿着第一轴向移动而进入容置空间内，进而抵靠发光元件的第一部分结构与第二部分结构的其中之一。

在本实用新型的一实施例中，上述的发光元件检测装备还包括探针装置，可移动地配置于载台的另一侧，探针装置沿着第二轴向移动而接触于发光元件，用以检测发光元件，其中第二轴向与第一轴向彼此不平行。

在本实用新型的一实施例中，上述的夹具包括朝向发光元件的抵靠面，凹槽结构包括朝向抵靠面的表面，且部分抵靠面抵靠于发光元件，另一部分抵靠面抵靠于表面。

在本实用新型的一实施例中，上述的载台的承载面接触于发光元件的第一部分结构，且第一部分结构的硬度大于第二部分结构的硬度，夹具抵靠于发光元件的第一部分结构。

在本实用新型的一实施例中，上述的发光元件的第一部分结构包括陶瓷基板，第二部分结构包括发光结构。

在本实用新型的一实施例中，上述的发光元件检测设备还包括限位件，配置于载台的承载面，发光元件位于限位件与夹具之间。

在本实用新型的一实施例中，上述的发光元件包括发光二极管芯片。

本实用新型的优点在于，该发光元件检测设备于载台的承载面凹设有凹槽结构，在这样的结构设计下，当发光元件置于承载面等待进行检测时，夹具移动进入凹槽结构的容置空间内并抵靠于发光元件其中的一部分高硬度材质的结构上，避免夹具同时抵靠在高硬度材质的结构料与低硬度材质的结构上，有效降低夹具受损的机率，提高夹具的使用年限，同时还可进一步确保发光元件的低硬度材质结构不会受到夹具的抵靠而遭受破坏。

为让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

图1为本实用新型实施例的发光元件检测设备的立体结构示意图；

图2为沿图1所示的AA线段的剖面示意图；

图3为图1所示的发光元件检测设备的俯视示意图；

图4为本实用新型另一实施例的发光元件检测设备的剖面示意图。

符号说明

1、1a：发光元件检测设备

11：载台

12：夹具

13：探针装置

14：限位件

100：发光元件

101：第一部分结构

102：第二部分结构

110：承载面

111：凹槽结构

112：容置空间

113：表面

120：抵靠面

141：第一壁体

142：第二壁体

143：第三壁体

A1：第一轴向

A2：第二轴向

H1、H2：高度

S1：第一侧

S2：第二侧

S3：第三侧

具体实施方式