[实用新型]发光元件检测设备

权利要求书

1.一种发光元件检测设备，用于检测一发光元件，该发光元件包括彼此叠置的第一部分结构与第二部分结构，其特征在于，该发光元件检测装置包括：

载台，包括承载面以及凹设于该承载面的凹槽结构，该承载面用以承载该发光元件，该凹槽结构具有容置空间；以及

夹具，可移动地配置于该载台的一侧，该夹具沿着一第一轴向移动而进入该容置空间内，进而抵靠该发光元件的该第一部分结构与该第二部分结构的其中之一。

2.如权利要求1所述的发光元件检测设备，其特征在于，该发光元件检测设备还包括探针装置，可移动地配置于该载台的另一侧，该探针装置沿着一第二轴向移动而接触于该发光元件，用以检测该发光元件，其中该第二轴向与该第一轴向彼此不平行。

3.如权利要求1所述的发光元件检测设备，其特征在于，该夹具包括一朝向该发光元件的抵靠面，该凹槽结构包括一朝向该抵靠面的表面，且部分该抵靠面抵靠于该发光元件，另一部分该抵靠面抵靠于该表面。

4.如权利要求1所述的发光元件检测设备，其特征在于，该载台的该承载面接触于该发光元件的该第一部分结构，且该第一部分结构的硬度大于该第二部分结构的硬度，该夹具抵靠于该发光元件的该第一部分结构。

5.如权利要求4所述的发光元件检测设备，其特征在于，该发光元件的该第一部分结构包括陶瓷基板，该第二部分结构包括发光结构。

6.如权利要求1所述的发光元件检测设备，其特征在于，该发光元件检测设备还包括限位件，配置于该载台的该承载面，该发光元件位于该限位件与该夹具之间。

7.如权利要求1所述的发光元件检测设备，其特征在于，该发光元件包括发光二极管芯片。