[实用新型]一种力学量测定装置有效

专利信息
申请号: 201621287437.9 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN206670843U 公开(公告)日: 2017-11-24
发明(设计)人: 温泳;王树范 申请(专利权)人: 长春工程学院
主分类号: G01L1/22 分类号: G01L1/22
代理公司: 青岛申达知识产权代理有限公司37243 代理人: 霍本俊
地址: 130000 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 实用新型公开了一种力学量测定装置,半导体基板的表面中央处设置有测定部,测定部的周围设置有若干组以互相靠近的方式存在的第一杂质扩散电阻,每组第一杂质扩散电阻的一侧设置有一组第二杂质扩散电阻且每组第一杂质扩散电阻与第二杂质扩散电阻互相连接并形成惠斯通电桥,半导体基板的内部设置有变换器芯片,变换器芯片的一侧设置有二极管芯片,二极管芯片一侧设置有微控制器,微控制器一侧设置有剥离感知装置,剥离感知装置的一侧设置有模数转换器,模数转换器一侧设置有微型计算器,能提高测定精准度和测定效率,节约时间,操作方便,节省人力,让测定装置将具体的测定结果转化为二进制数字通过计算后显示在显示屏上,方便测定者观看。
搜索关键词: 一种 力学 测定 装置
【主权项】:
一种力学量测定装置,包括半导体基板(1)、测定部(2)、第一杂质扩散电阻(3)、第二杂质扩散电阻(4)、惠斯通电桥(5)、显示屏(6)、粘结剂(7)、变换器芯片(8)、二极管芯片(9)、微控制器(10)、剥离感知装置(11)、模数转换器(12)和微型计算器(13),其特征在于,所述半导体基板(1)的表面中央处设置有所述测定部(2),所述测定部(2)的周围设置有若干组以互相靠近的方式存在的若干组第一杂质扩散电阻(3),每组所述第一杂质扩散电阻(3)的一侧设置有一组所述第二杂质扩散电阻(4)且每组所述第一杂质扩散电阻(3)与所述第二杂质扩散电阻(4)互相连接并形成所述惠斯通电桥(5),所述半导体基板(1)的内部设置有所述变换器芯片(8),所述变换器芯片(8)的一侧设置有所述二极管芯片(9),所述二极管芯片(9)的一侧设置有所述微控制器(10),所述微控制器(10)的一侧设置有所述剥离感知装置(11),所述剥离感知装置(11)的一侧设置有所述模数转换器(12),所述模数转换器(12)的一侧设置有所述微型计算器(13),所述惠斯通电桥(5)与所述变换器芯片(8)电性连接,所述变换器芯片(8)与所述二极管芯片(9)电性连接,所述二极管芯片(9)与所述微控制器(10)电性连接,所述微控制器(10)与所述剥离感知装置(11)电性连接,所述剥离感知装置(11)与所述模数转换器(12)电性连接,所述模数转换器(12)与所述微型计算器(13)电性连接,所述微型计算器(13)与所述显示屏(6)电性连接,所述半导体基板(1)为长方体形状,所述半导体基板(1)的底部设置有所述粘结剂(7)。
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