[实用新型]一种力学量测定装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测定装置，具体涉及一种力学量测定装置。

背景技术

长度是最基本的物理量。在各种各样的长度测量仪器中，它们的外观虽然不同，但其标度大都是以一定的长度来划分的。对许多物理量的测量都可以归为对长度的测量，因此，长度的测量是实验测量的基础。在进行长度的测量中，我们不仅要求能够正确使用测量仪器，还要能够根据对长度测量的不同精度要求，合理选择仪器，以及根据测量对象和测量条件采用适当的测量手段。密度是表征物体特征的重要物理量，因而密度的测量对物体性质的研究起着重要的作用。对于规则的物体，用物理天平测出其质量，用测量长度的方法测出其体积，即可测量出物质的密度, 力学量测定装置能够粘贴在被测定物上，从而间接地测定作用于被测定物的力学量。作为该力学量测定装置，提出了应用依赖于变形而电阻产生变化的效果 ( 压电电阻效应 ) 的应变传感器芯片。在该应变传感器芯片 ( 力学量测定装置 ) 的表面形成杂质扩散电阻，应变传感器芯片 ( 力学量测定装置 ) 通过粘结剂而粘贴于被测定物。对被测定物作用力学量，若被测定物产生变形，则经由粘结剂，杂质扩散电阻产生变形，由于电阻变化，因此能够感知作用于被测定物的力学量 ( 变形 )。由于粘结剂将被测定物的变形传递到力学量测定装置的杂质扩散电阻，因此，此时粘结剂自身也变形。由此，考虑到粘着力变弱，应变传感器芯片 ( 力学量测定装置 ) 从被测定物剥离的情况。若应变传感器芯片(力学量测定装置)剥离，则认为被测定物的变形不能充分传递到应变传感器芯片 ( 力学量测定装置 )，因此不能正确地进行测定，现有的力学量测定装置在测定完成后难以具体的测量出精准数值，为此提供了一种力学量测定装置。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的力学量测定装置在测定完成后难以具体的测量出精准数值的问题，提供一种力学量测定装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

本实用新型提供了一种力学量测定装置，包括半导体基板、测定部、第一杂质扩散电阻、第二杂质扩散电阻、惠斯通电桥、显示屏、粘结剂、变换器芯片、二极管芯片、微控制器、剥离感知装置、模数转换器和微型计算器，所述半导体基板的表面中央处设置有所述测定部，所述测定部的周围设置有若干组以互相靠近的方式存在的第一杂质扩散电阻，每组所述第一杂质扩散电阻的一侧设置有一组所述第二杂质扩散电阻，且每组所述第一杂质扩散电阻与所述第二杂质扩散电阻互相连接并形成所述惠斯通电桥，所述半导体基板的内部设置有所述变换器芯片，所述变换器芯片的一侧设置有所述二极管芯片，所述二极管芯片的一侧设置有所述微控制器，所述微控制器的一侧设置有所述剥离感知装置，所述剥离感知装置的一侧设置有所述模数转换器，所述模数转换器的一侧设置有所述微型计算器。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述惠斯通电桥与所述变换器芯片电性连接，所述变换器芯片与所述二极管芯片电性连接，所述二极管芯片与所述微控制器电性连接，所述微控制器与所述剥离感知装置电性连接，所述剥离感知装置与所述模数转换器电性连接，所述模数转换器与所述微型计算器电性连接，所述微型计算器与所述显示屏电性连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述半导体基板为长方体形状。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述半导体基板的底部设置有所述粘结剂。

本实用新型所达到的有益效果是：该装置是一种力学量测定装置，该装置可以提高测定精准度和测定效率，节约时间，操作方便，节省人力，让测定装置将具体的测定结果转化为二进制数字通过计算后显示在显示屏上，方便测定者观看，整个装置设计合理，使用方便，解决了现有的力学量测定装置在测定完成后难以具体的测量出精准数值的问题。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的模块图；

图中：1、半导体基板；2、测定部；3、第一杂质扩散电阻；4、第二杂质扩散电阻；5、惠斯通电桥；6、显示屏；7、粘结剂；8、变换器芯片；9、二极管芯片；10、微控制器；11、剥离感知装置；12、模数转换器；13、微型计算器。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。