[实用新型]一种力学量测定装置

权利要求书

1.一种力学量测定装置，包括半导体基板(1)、测定部(2)、第一杂质扩散电阻(3)、第二杂质扩散电阻(4)、惠斯通电桥(5)、显示屏(6)、粘结剂(7)、变换器芯片(8)、二极管芯片(9)、微控制器(10)、剥离感知装置(11)、模数转换器(12)和微型计算器(13),其特征在于，所述半导体基板(1)的表面中央处设置有所述测定部(2)，所述测定部(2)的周围设置有若干组以互相靠近的方式存在的若干组第一杂质扩散电阻(3)，每组所述第一杂质扩散电阻(3)的一侧设置有一组所述第二杂质扩散电阻(4)且每组所述第一杂质扩散电阻(3)与所述第二杂质扩散电阻(4)互相连接并形成所述惠斯通电桥(5)，所述半导体基板(1)的内部设置有所述变换器芯片(8)，所述变换器芯片(8)的一侧设置有所述二极管芯片(9)，所述二极管芯片(9)的一侧设置有所述微控制器(10)，所述微控制器(10)的一侧设置有所述剥离感知装置(11)，所述剥离感知装置(11)的一侧设置有所述模数转换器(12)，所述模数转换器(12)的一侧设置有所述微型计算器(13)，所述惠斯通电桥(5)与所述变换器芯片(8)电性连接，所述变换器芯片(8)与所述二极管芯片(9)电性连接，所述二极管芯片(9)与所述微控制器(10)电性连接，所述微控制器(10)与所述剥离感知装置(11)电性连接，所述剥离感知装置(11)与所述模数转换器(12)电性连接，所述模数转换器(12)与所述微型计算器(13)电性连接，所述微型计算器(13)与所述显示屏(6)电性连接，所述半导体基板(1)为长方体形状，所述半导体基板(1)的底部设置有所述粘结剂(7)。