[实用新型]一种测试凹槽可调式晶体管封装体测试座

摘要

本实用新型公开了一种测试凹槽可调式晶体管封装体测试座，属于芯片测试技术领域。本实用新型的测试座包括固定夹、项圈、顶杆和活动夹；固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节；固定夹总体高度大于活动夹，两者顶部齐平；项圈由固定夹的底部套入，两者呈上下间隙配合，并通过项圈竖向洞穿的固定孔固定于测试台基座上；固定夹的底部固定连接顶杆；连接顶杆的正下方设置有圆孔的基座，连接顶杆上套有大弹簧和基座的圆孔上下间隙配合，项圈和连接顶杆的配合作用，具有防叠料功能和防止整个测试座的过度上升。本实用新型达到了提高晶体管封装体的测试平均良率的目的。

主权项

一种测试凹槽可调式晶体管封装体测试座，包括固定夹(1)、项圈(3)、连接顶杆(9)，其特征在于，还包括活动夹(2)；所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接，并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(111)的宽度调节；所述固定夹(1)总体高度大于活动夹(2)，两者顶部齐平；所述项圈(3)由固定夹(1)的底部套入，两者呈上下间隙配合，并通过项圈(3)竖向洞穿的固定孔(31)固定于测试台上；固定夹(1)的底部固定连接顶杆(9)；所述连接顶杆(9)的正下方，设置有圆孔的基座(10)，连接顶杆(9)和基座(10)的圆孔上下间隙配合，在圆孔内上下运动。