[发明专利]天线罩的电性能评估方法及装置有效
| 申请号： | 201611260531.X | 申请日： | 2016-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN108268674B | 公开（公告）日： | 2022-04-01 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 深圳光启高等理工研究院 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;卢军峰 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置，该天线罩的电性能评估方法包括：根据测量来获取天线辐射近区电场信息，并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息；获取天线罩的模型数据信息，并根据天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息；根据天线的口径面电场信息和天线罩的剖分面元信息，计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据天线的远场信息及天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。通过实际测量天线的辐射近区电场信息，获取到天线的口径面电场信息，进而得到天线罩的性能参数信息，从而在不依靠天线数模输入的情况下，保证计算精度、大大提高了“天线+天线罩”的天线系统电性能评估的可操作性。 | ||
| 搜索关键词： | 天线罩 性能 评估 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种天线罩的电性能评估方法，所述天线罩和设置在所述天线罩内的天线组成天线系统，其特征在于，所述电性能评估方法包括：根据测量来获取所述天线辐射近区电场信息，并根据所述近区电场信息计算出天线的口径面电场信息；获取天线罩的模型数据信息，并根据所述天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息；根据所述天线的口径面电场信息和所述天线罩的剖分面元信息，计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据所述天线的远场信息及所述天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。
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