[发明专利]天线罩的电性能评估方法及装置

说明书

本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置，该天线罩的电性能评估方法包括：根据测量来获取天线辐射近区电场信息，并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息；获取天线罩的模型数据信息，并根据天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息；根据天线的口径面电场信息和天线罩的剖分面元信息，计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据天线的远场信息及天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。通过实际测量天线的辐射近区电场信息，获取到天线的口径面电场信息，进而得到天线罩的性能参数信息，从而在不依靠天线数模输入的情况下，保证计算精度、大大提高了“天线+天线罩”的天线系统电性能评估的可操作性。

技术领域

本发明涉及天线领域，具体来说，涉及一种天线罩的电性能评估方法及装置。

背景技术

现有技术中，通常利用物理光学算法，根据天线口径面电场分布或天线平面波谱与天线口径面电场分布之间存在的傅里叶变换关系，计算入射到天线罩内壁上的近区场，然后，仿照几何光学的射线原理，计算局部平面上的透射和反射场。

但是这种电性能评估方法存在非常明显的缺陷，例如：天线口径面电场信息通常是基于对天线数模进行全波仿真获取得到，在无天线数模的情况下，通常采用近似建模来仿真。并且，对于带有复杂工装结构的天线系统，全波仿真前通常必须对模型作简化处理。上述例子均会与实际的天线系统的辐射特性存在一定差别。

因此，现有技术中，在无法获取到天线精确的数模或天线系统比较复杂时，通常无法实现对天线罩电性能的高精度评估。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

针对相关技术中的问题，本发明提出一种天线罩的电性能评估方法及装置，能够在不依靠天线精确的数模输入的情况下，有效评估天线罩的电性能，在保证计算精度的情况下，大大的提高了天线罩电性能评估的可操作性。

本发明的技术方案是这样实现的：

根据本发明的一个方面，提供了一种天线罩的电性能评估方法。天线罩和设置在天线罩内的天线组成天线系统，该电性能评估方法包括：

根据测量来获取天线辐射近区电场信息，并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息；

获取天线罩的模型数据信息，并根据天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息；

根据天线的口径面电场信息和天线罩的剖分面元信息，计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；

根据天线的远场信息及天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。

在一个优选的实施例中，在根据测量来获取天线辐射近区电场信息，并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息之后，还包括：

对天线的口径面电场信息进行近远场变换以得到与天线的口径面电场信息对应的远场信息的计算值；

将实际测量获取的天线的口径面远场信息的测量值与天线的口径面远场信息的计算值进行比对，以对天线的口径面电场信息进行核验。

在一个优选的实施例中，将实际测量获取的远场信息的测量值与远场信息的计算值进行比对，以对天线的口径面电场信息进行核验，包括：

将天线的口径面远场信息的计算值与天线的口径面远场信息的测量值进行比较；

若远场信息的计算值与远场信息的测量值的差值未超出预定阈值，则将天线的口径面电场信息作为天线的实际口径面电场信息；

若差值超出预定阈值，则调整天线的辐射近区电场信息的测试参数，并返回根据测量来获取天线辐射近区电场信息，并根据近区电场信息计算出天线的口径面电场信息的步骤。