[发明专利]天线罩的电性能评估方法及装置

权利要求书

1.一种天线罩的电性能评估方法，所述天线罩和设置在所述天线罩内的天线组成天线系统，其特征在于，所述电性能评估方法包括：

根据测量来获取所述天线辐射近区电场信息，并根据所述近区电场信息计算出天线的口径面电场信息；

获取天线罩的模型数据信息，并根据所述天线罩的模型数据信息获取天线罩的剖分面元信息；

根据所述天线的口径面电场信息和所述天线罩的剖分面元信息，计算出安装有天线罩的天线的远场信息和天线系统的远场信息；

根据安装有天线罩的所述天线的远场信息及所述天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息，

其中，根据天线罩的模型数据信息获取所述天线罩的剖分面元信息，包括：

对所述天线罩的模型数据信息进行数模预处理，以得到简化的天线罩的模型数据信息，且所述简化的天线罩的模型数据信息以天线口面中心为平面坐标系原点，所述天线口面与所述平面坐标系位于同一平面内；

对所述简化的天线罩的模型数据信息进行离散剖分和提取以获取所述天线罩的剖分面元信息，

其中，所述天线罩的剖分面元信息包括：剖分面元中心点坐标(x，y，z)、剖分面元法向量和剖分面元面积ds，根据所述天线的口径面电场信息和所述天线罩的剖分面元信息，计算出天线的远场信息，包括：

根据所述天线的口径面电场信息和所述天线罩的剖分面元信息，计算出天线辐射到天线罩的入射场信息，所述天线罩内表面的入射场信息包括第i个剖分面元对应场点处的入射场的电场矢量E_i1和入射场的磁场矢量H_i1，并按照下式进行计算：

其中，λ₀表示自由空间波长，k＝2π/λ₀表示自由空间波数，ε表示介电常数，μ表示磁导率；角频率ω＝2πf，f表示天线工作频率；ρ＝|r-r'|为源点到天线罩上场点的距离，为ρ的单位矢量；r为天线罩上场点的位置矢量；r'为天线口径源点的位置矢量；为天线口径法向单位矢量；所述天线的口径面电场信息包括天线口径激励的电场E_a；i为大于1的整数，

获取天线罩的散射参量信息；

根据所述天线罩的散射参量信息以及所述天线辐射到天线罩的入射场信息，计算出天线罩的透射场信息，所述透射场信息包括一次透射场的电场矢量E_o1、一次透射场的磁场矢量H_o1和二次透射场的电场矢量E_o2、二次透射场的磁场矢量H_o2；

根据所述天线罩的透射场信息和所述天线罩的剖分面元信息，按照下或计算出所述天线系统的远场信息E^t(θ,φ)：

其中，θ表示入射角度，Φ表示相位，为r的单位矢量，为天线罩源点所在剖分面元的单位法向向量。

2.根据权利要求1所述的天线罩的电性能评估方法，其特征在于，在根据测量来获取所述天线辐射近区电场信息，并根据所述近区电场信息计算出天线的口径面电场信息之后，还包括：

对所述天线的口径面电场信息进行近远场变换以得到与所述天线的口径面电场信息对应的远场信息的计算值；

将实际测量获取的所述天线的口径面远场信息的测量值与所述天线的口径面远场信息的计算值进行比对，以对所述天线的口径面电场信息进行核验。

3.根据权利要求2所述的天线罩的电性能评估方法，其特征在于，将实际测量获取的远场信息的测量值与所述远场信息的计算值进行比对，以对所述天线的口径面电场信息进行核验，包括：

将所述天线的口径面远场信息的计算值与所述天线的口径面远场信息的测量值进行比较；

若所述远场信息的计算值与所述远场信息的测量值的差值未超出预定阈值，则将所述天线的口径面电场信息作为天线的实际口径面电场信息；

若所述差值超出所述预定阈值，则调整所述天线的辐射近区电场信息的测试参数，并返回根据测量来获取所述天线辐射近区电场信息，并根据所述近区电场信息计算出天线的口径面电场信息的步骤。