[发明专利]半导体发光装置及半导体发光装置的制造方法有效
| 申请号： | 201611182279.5 | 申请日： | 2016-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN106920791B | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 安藤宪 | 申请（专利权）人： | 斯坦雷电气株式会社 |
| 主分类号： | H01L25/075 | 分类号： | H01L25/075;H01L25/00;H01L33/48 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;黄纶伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供半导体发光装置及半导体发光装置的制造方法，使发光元件的安装精度提高，使半导体发光装置的可靠性提高。本发明提供的半导体发光装置(1)具有：基板(11)，在该基板设有配线图案；多个发光元件(14)，它们在该基板上以相等间隔排列，通过接合层(13)与所述配线图案(12)电连接；以及多个突起(16)，它们排列在露出于所述发光元件之间的间隙(15)中的所述配线图案上，抑制所述发光元件的错位。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 发光 装置 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体发光装置，该半导体发光装置具有：基板，在该基板上设有配线图案；多个发光元件，它们在该基板上以规定的间隔排列，经由接合层与所述配线图案电连接；以及多个突起，它们排列在露出于所述发光元件之间的间隙中的所述配线图案上，抑制所述发光元件的错位。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于斯坦雷电气株式会社，未经斯坦雷电气株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611182279.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种指纹模组
- 下一篇：一种新型指纹识别模组及金属环
- 同类专利
- 专利分类
