[发明专利]用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统

摘要

用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统，涉及核辐射探测技术领域，所述方法包括布样取样的步骤、根据采样测量结果计算单次测量中待测介质表面氡析出率平均值的步骤、计算一定时间段内待测区域单位面积氡释放总量的步骤以及计算一定时间段内介质表面的氡释放总量的步骤。本发明通过活性炭‑γ能谱法测量介质表面的区域分布规律，通过用基于静电收集的氡析出率连续测量方法对代表测量点的氡析出率连续测量得出其变化规律，以氡析出率连续测量仪为基准对活性炭法测量结果修正，从而得到准确的平均氡析出率值进而得到一定时间段内介质表面氡释放总量。

主权项

1.用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、布样与采样：将待测介质表面划分为多个待测区域，从一个待测区域中选定一个代表测量点，用基于静电收集的氡析出率连续测量仪连续测量该代表测量点的氡析出率，同时在该代表测量点周围设置用活性炭‑γ能谱法测量的对比测量点，并在其它待测区域中选定代表测量点用活性炭‑γ能谱法测量氡析出率；步骤二、根据采样测量结果计算单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值：S001、依据所述氡析出率连续测量仪测得的氡析出率测量值，并结合下式(1)计算出对比测量点用活性炭‑γ能谱法测量的理论参考值JR：式(1)中J1、J2、J3..Jn为氡析出率连续测量仪在测量周期T的时间过程中得到的实际测量数据，n为氡析出率连续测量仪在测量周期T的时间过程中得到的实际测量数据的样本数；S002、将所述对比测量点用活性炭‑γ能谱法测量的理论参考值JR结合以下式(2)计算出刻度系数ε为：式(2)中JAC为对比测量点活性炭‑γ能谱法在相同测量周期T内实际测量的结果；S003、按下式(3)计算出单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值JAV：式(3)中Jc1、Jc2...Jcm为对比测量点及其他待测区域代表测量点经活性炭‑γ能谱法实测得到的氡析出率值，m为对比测量点及其他待测区域代表测量点经活性炭‑γ能谱法实测得到的氡析出率值的样本数；步骤三、计算一定时间段内待测区域单位面积的氡释放总量：由步骤二计算得到的单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值与时间的乘积就可得到该时间段内待测区域单位面积的氡释放总量；步骤四、计算一定时间段内介质表面的氡释放总量：由步骤三计算得到的待测区域单位面积的氡释放总量与待测介质总表面积的乘积就可得到该时间段内介质表面的氡释放总量。