[发明专利]用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统有效
申请号: | 201611097038.0 | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN106707325B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 肖德涛;李志强;赵桂芝;单健;肖高平;吴喜军;周青芝;何正忠 | 申请(专利权)人: | 南华大学;衡阳师范学院 |
主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167 |
代理公司: | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 | 代理人: | 龙腾 |
地址: | 421000 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 氡析出率 时间段 内介质 释放 连续测量 测量 区域分布规律 核辐射探测 连续测量仪 活性炭 变化规律 采样测量 测量介质 待测区域 单次测量 活性炭法 结果计算 介质表面 静电收集 测量点 能谱法 布样 取样 修正 | ||
用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统,涉及核辐射探测技术领域,所述方法包括布样取样的步骤、根据采样测量结果计算单次测量中待测介质表面氡析出率平均值的步骤、计算一定时间段内待测区域单位面积氡释放总量的步骤以及计算一定时间段内介质表面的氡释放总量的步骤。本发明通过活性炭‑γ能谱法测量介质表面的区域分布规律,通过用基于静电收集的氡析出率连续测量方法对代表测量点的氡析出率连续测量得出其变化规律,以氡析出率连续测量仪为基准对活性炭法测量结果修正,从而得到准确的平均氡析出率值进而得到一定时间段内介质表面氡释放总量。
技术领域
本发明涉及核辐射探测技术领域,特别涉及一种用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统。
背景技术
目前对铀尾矿氡析出率测量的方法主要有:活性炭—γ能谱法、固体核径迹法、静电收集法、闪烁室法等。
固体核径迹法广泛用于辐射防护水平和环境水平的辐射场和吸收剂量的测量,但该方法需要较长时间才能得到氡析出率,且操作复杂,需要借助显微镜读片,且泄露和反扩散对测量结果的影响不可忽略,测量准确性较差。
闪烁室法测量铀矿山表面氡析出率是应用较为广泛的方法之一,也是核行业标准EJ/T 979-95中表面氡析出率测定的标准方法,我国传统铀矿山氡析出率的测量主要是以闪烁室法为主,其主要缺点是集氡罩内氡泄露和反扩散问题不容忽略、测量结果代表性差,取样过程也较为复杂,难以实现批样布点测量。
活性炭—γ能谱法的工作原理是利用一个采样装置(国际原子能机构333号报告建议活性炭测量氡析出率采样装置底面直径为7-25cm,装活性炭量为50-225g,符合上述要求的活性炭测量氡析出率采样装置一般称为标准活性炭盒)紧扣在待测介质的表面,内部放有活性炭,周围用不吸氡的材料密封(如橡皮泥等)。活性炭对氡吸附性能好且化学性质稳定,耐高温,可以经受水浸,应用方便,但采样及测量需要较长时间才能得到氡析出率,且氡析出率较为稳定时才能得到准确的测量结果,这种方法需要大规模布点测量,平行性好,但铀尾矿表面氡析出率会跟随时间和气象参数的变化而变化,故活性炭—γ能谱法只能做相对分布规律的测量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南华大学;衡阳师范学院,未经南华大学;衡阳师范学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611097038.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。