[发明专利]用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法与系统有效
申请号: | 201611097038.0 | 申请日: | 2016-12-02 |
公开(公告)号: | CN106707325B | 公开(公告)日: | 2019-02-01 |
发明(设计)人: | 肖德涛;李志强;赵桂芝;单健;肖高平;吴喜军;周青芝;何正忠 | 申请(专利权)人: | 南华大学;衡阳师范学院 |
主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167 |
代理公司: | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 | 代理人: | 龙腾 |
地址: | 421000 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氡析出率 时间段 内介质 释放 连续测量 测量 区域分布规律 核辐射探测 连续测量仪 活性炭 变化规律 采样测量 测量介质 待测区域 单次测量 活性炭法 结果计算 介质表面 静电收集 测量点 能谱法 布样 取样 修正 | ||
1.用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、布样与采样:
将待测介质表面划分为多个待测区域,从一个待测区域中选定一个代表测量点,用基于静电收集的氡析出率连续测量仪连续测量该代表测量点的氡析出率,同时在该代表测量点周围设置用活性炭-γ能谱法测量的对比测量点,并在其它待测区域中选定代表测量点用活性炭-γ能谱法测量氡析出率;
步骤二、根据采样测量结果计算单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值:
S001、依据所述氡析出率连续测量仪测得的氡析出率测量值,并结合下式(1)计算出对比测量点用活性炭-γ能谱法测量的理论参考值JR:
式(1)中J1、J2、J3..Jn为氡析出率连续测量仪在测量周期T的时间过程中得到的实际测量数据,n为氡析出率连续测量仪在测量周期T的时间过程中得到的实际测量数据的样本数;
S002、将所述对比测量点用活性炭-γ能谱法测量的理论参考值JR结合以下式(2)计算出刻度系数ε为:
式(2)中JAC为对比测量点活性炭-γ能谱法在相同测量周期T内实际测量的结果;
S003、按下式(3)计算出单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值JAV:
式(3)中Jc1、Jc2...Jcm为对比测量点及其他待测区域代表测量点经活性炭-γ能谱法实测得到的氡析出率值,m为对比测量点及其他待测区域代表测量点经活性炭-γ能谱法实测得到的氡析出率值的样本数;
步骤三、计算一定时间段内待测区域单位面积的氡释放总量:
由步骤二计算得到的单次测量中待测介质表面氡析出率的平均值与时间的乘积就可得到该时间段内待测区域单位面积的氡释放总量;
步骤四、计算一定时间段内介质表面的氡释放总量:
由步骤三计算得到的待测区域单位面积的氡释放总量与待测介质总表面积的乘积就可得到该时间段内介质表面的氡释放总量。
2.用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法,其特征在于:先根据表面覆盖物分布情况将介质表面划分为多个片区,再通过权利要求1中步骤一至四的方法测量出每个片区在该时间段内的氡释放总量,最后将各片区的氡释放总量相加就可得到该时间段内介质表面的氡释放总量。
3.根据权利要求1所述的用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法,其特征在于:所述一定时间段的时长为1年,所述介质表面为铀尾矿库表面,所述步骤一中划分的各待测区域表面积相等。
4.根据权利要求1-3中任意一项所述的用于测量一定时间段内介质表面氡释放总量的方法,其特征在于:步骤一中采用活性炭-γ能谱法对对比测量点和其他待测区域代表测量点进行测量的采样持续时间为24小时。
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