[发明专利]多位点检测区、微电极阵列及其制备方法有效
| 申请号： | 201611024906.2 | 申请日： | 2016-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN106645346B | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 王力;蔡新霞;罗金平;宋轶琳;徐辉任;王杨 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01N27/327 | 分类号： | G01N27/327 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 任岩<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种多位点检测区、微电极阵列及其制备方法，用于多活性位点神经递质的检测，该多位点检测区包括：检测电极本体；以及纳米复合薄膜层，设置在所述检测电极本体上，采用该多位点检测区的平面微电极阵列提高了递质电催化能力，降低了电极阻抗、热噪声等。 | ||
| 搜索关键词： | 多位点检测 微电极阵列 检测电极 纳米复合薄膜 电极阻抗 活性位点 神经递质 电催化 热噪声 递质 制备 检测 | ||
【主权项】：
1.一种多位点检测区组，包括多个用于多活性位点神经递质检测的多位点检测区(4)，其特征在于，所述多位点检测区(4)包括：/n检测电极本体；以及/n纳米复合薄膜层(6)，设置在所述检测电极本体上，/n其中，所述检测电极本体包括：/n一圆形微电极(41)，直径10μm；/n多个弧形微电极(42)，围绕所述圆形微电极(41)排列，/n所述多位点检测区(4)为14个，呈三排，左右对称分布；/n所述纳米复合薄膜层(6)设置在所述圆形微电极(41)和所述多个弧形微电极(42)上。/n
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