[发明专利]半导体装置及其制造方法有效
| 申请号: | 201610914575.3 | 申请日: | 2016-10-20 |
| 公开(公告)号: | CN107026201B | 公开(公告)日: | 2020-08-18 |
| 发明(设计)人: | 陈芳;廖忠志;梁铭彰 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L21/28;H01L21/285 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;王芝艳 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本公开提供一种半导体装置及其制造方法。一种半导体装置,包括鳍式场效晶体管。上述半导体装置包括第一栅极电极;第一源极/漏极区域,邻近第一栅极电极设置;第一源极/漏极接触,设于第一源极/漏极区域上;第一间隔物层,设于第一栅极电极及第一源极/漏极区域之间;第一接触层,接触第一栅极电极及第一源极/漏极接触;第一线路层,与第一接触层一体地形成。在剖面图中第一接触层及第一线路层之间没有界面,且在俯视图中第一接触层具有小于第一线路层的面积。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括一鳍式场效晶体管,该半导体装置包括:一第一栅极电极;一第一源极/漏极区域,邻近该第一栅极电极设置;一第一源极/漏极接触,设于该第一源极/漏极区域上;一第一间隔物层,设于该第一栅极电极及该第一源极/漏极区域之间;一第一接触层,接触该第一栅极电极及该第一源极/漏极接触;一第一线路层,与该第一接触层一体地形成;其中,在一剖面图中该第一接触层及该第一线路层之间没有界面,且在俯视图中该第一接触层具有一小于该第一线路层的面积。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610914575.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类





