[发明专利]现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统在审
| 申请号： | 201610876613.0 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107885181A | 公开（公告）日： | 2018-04-06 |
| 发明（设计）人： | 陈宁;俞军;沈磊;俞剑;张智;丰震昊;周慧 | 申请（专利权）人： | 上海复旦微电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 张凤伟,吴敏 |
| 地址： | 200433 上海市杨浦区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统。所述系统包括时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元，向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同，从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同；其中所述时钟管理器，适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率，所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率；所述待测DSP单元，适于以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述激励数据，并对所述激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器。应用上述系统，可以提高高频下测试DSP单元功能的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 现场 可编程 门阵列 芯片 dsp 单元 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，包括：时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元，向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同，从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同；其中：所述时钟管理器，适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率，所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率；所述第一存储器，适于存储激励数据；所述待测DSP单元，适于在第一控制信号的控制下，以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述激励数据，并对所述激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器；所述第二存储器，适于用于存储所述待测DSP单元的运算结果数据；所述第三存储器，适于存储与所述激励数据对应的期望数据；所述测试单元，适于在第二控制信号的控制下，以所述第二时钟频率，从所述第二存储器中获取运算结果数据，以及从所述第三存储器中获取期望数据，并将所述运算结果数据与期望数据进行比较，输出测试结果。
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