[发明专利]现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统

权利要求书

1.一种现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，包括：时钟管理器、第一存储器、待测DSP单元、第二存储器、第三存储器以及测试单元，向所述第二存储器写入数据的时钟频率与所述第一存储器及待测DSP单元的工作频率相同，从所述第二存储器中读取数据的时钟频率与所述第三存储器以及测试单元的工作频率相同；其中：

所述时钟管理器，适于提供第一时钟频率以及第二时钟频率，所述第一时钟频率大于所述第二时钟频率；

所述第一存储器，适于存储激励数据；

所述待测DSP单元，适于在第一控制信号的控制下，以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述激励数据，并对所述激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器；

所述第二存储器，适于用于存储所述待测DSP单元的运算结果数据；

所述第三存储器，适于存储与所述激励数据对应的期望数据；

所述测试单元，适于在第二控制信号的控制下，以所述第二时钟频率，从所述第二存储器中获取运算结果数据，以及从所述第三存储器中获取期望数据，并将所述运算结果数据与期望数据进行比较，输出测试结果。

2.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述待测DSP单元的数量为一个。

3.如权利要求2所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述测试单元包括：所述现场可编程门阵列芯片中的数据采集单元以及chipscope工具。

4.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述待测DSP单元的数量为两个以上。

5.如权利要求2或4所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述测试单元包括：所述现场可编程门阵列芯片中的数据比较单元。

6.如权利要求4所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述第一存储数据存储多个激励数据；

所述待测DSP单元适于在第一控制信号的控制下，以所述第一时钟频率，从所述第一存储器中获取所述多个激励数据，并对所述多个激励数据执行预设的运算操作，以及将运算结果数据输出至所述第二存储器。

7.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述时钟管理器为所述现场可编程门阵列芯片中的时钟管理单元。

8.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述第一存储器及第三存储器为所述现场可编程门阵列芯片中的ROM，所述第二存储器为所述现场可编程门阵列芯片中的RAM。

9.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述第一控制信号与所述第二控制信号相同。

10.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述第一时钟频率为第二时钟频率的N倍，N≥2。

11.如权利要求1所述的现场可编程门阵列芯片中DSP单元的测试系统，其特征在于，所述第一存储器中存储的激励数据是通过伪随机数发生器获得的。