[发明专利]芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统有效
| 申请号： | 201610827095.3 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107818576B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 王宇建 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/30 | 分类号： | G06T7/30;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 钟子敏 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统，方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对版图图片进行坐标化处理，确定版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对待测芯片的测试图像坐标化处理，确定测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标；根据待测芯片的版图图片和测试图像的对应关系建立第一坐标系和第二坐标系之间的双向映射关系；根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位。通过以上方式，本发明能够在测试中实时观测芯片版图，并能够在不增加硬件成本的情况下适应不同的芯片类型和满足不同的观测需要。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 版图 图片 测试 图像 坐标 映射 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片预定层次的版图图片；对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标；对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标；根据所述待测芯片的所述版图图片和所述测试图像的对应关系建立所述第一坐标系和所述第二坐标系之间的双向映射关系；根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位。
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