[发明专利]芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法及系统

权利要求书

1.一种芯片版图图片与测试图像的坐标映射方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测芯片预定层次的版图图片；

对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标，其中，所述对所述版图图片进行坐标化处理，确定所述版图图片中每个点在第一坐标系的第一坐标的步骤包括：将所述版图图片视为多行×多列像素组成的第一矩阵，所述第一矩阵中每个像素为一个点；根据任一点在所述第一矩阵中的位置确定其第一坐标，建立所述第一坐标系；记录所述待测芯片的四个顶点在所述第一坐标系中的第一坐标；

对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标，其中，所述对所述待测芯片的测试图像坐标化处理，确定所述测试图像中每个点在第二坐标系的第二坐标的步骤包括：所述待测芯片上测试点在所述测试图像平面内排列形成由多行×多列的第二矩阵；所述第二矩阵中任一点对应一第二坐标，建立第二坐标系；记录所述待测芯片的四个顶点在所述第二坐标系中的第二坐标；

根据所述待测芯片的所述版图图片和所述测试图像的对应关系建立所述第一坐标系和所述第二坐标系之间的双向映射关系；

根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位，

其中，所述根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位，包括：利用所述双向映射关系待测试点在其中一坐标系的坐标计算所述待测试点在另一坐标系的坐标。

2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据双向映射关系对待测芯片的测试点进行识别和/或定位的步骤包括：

在所述版图图片上实时跟踪显示当前测试点；和/或

在所述测试图像上定位所述版图图片上的待测试点。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述版图图片上实时跟踪显示当前测试点的步骤包括：

获取所述当前测试点在所述第二坐标系的第二坐标；

根据所述双向映射关系计算所述当前测试点在所述第一坐标系的第一坐标；

在所述版图图片显示并跟踪所述当前测试点。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述测试图像上定位所述版图图片上的待测试点的步骤包括：

获取待测试点在所述第一坐标系的第一坐标；

根据所述双向映射关系计算所述待测试点在所述第二坐标系的第二坐标；

将所述待测试点在所述测试图像上移动到所述第二坐标处以方便进行测试。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述版图图片为所述待测芯片的任一层次版图的设计图或照片。