[发明专利]半导体装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610494987.6 申请日: 2016-06-29
公开(公告)号: CN106611714B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 金阳瑞;杜旺朱;李吉弘;张民华;金东和;李旺求;黄金良;崔美京 申请(专利权)人: 艾马克科技公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/50;H01L23/14;H01L23/31
代理公司: 北京寰华知识产权代理有限公司 11408 代理人: 林柳岑;王兴
地址: 美国亚利桑那州85*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体装置及其制造方法。一种半导体封装及一种其制造方法,所述半导体封装及其制造方法能够减小所述半导体封装的大小并且提高产品可靠性。在非限制性实例实施例中,所述方法可以包括在晶片上形成插入件,在所述插入件上形成至少一个加固部件,将至少一个半导体裸片耦合且电连接到所述插入件,用底胶填充所述半导体裸片与所述插入件之间的区域,并且使用包封物包封所述插入件上的所述加固部件、所述半导体裸片和所述底胶。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
一种用于制造半导体封装的方法,所述方法包括:在晶片上形成插入件;在所述插入件上形成至少一个加固部件;将至少一个半导体裸片耦合且电连接到所述插入件;用底胶填充所述半导体裸片与所述插入件之间的区域;以及使用包封物包封所述插入件上的所述加固部件、所述半导体裸片和所述底胶。
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