[发明专利]一种芯片及获取芯片调试数据的方法

摘要

本发明实施例公开了一种芯片及获取芯片调试数据的方法，该方法包括：芯片总控模块确定芯片处于死机状态时，触发IO控制模块通过强制更改DDR存储单元的IO电平状态控制DDR存储单元进行自刷新；芯片总控模块根据IO控制模块接收到的复位请求命令按照预设的复位序列控制芯片进行复位；DDR控制及接口模块在复位后根据DDR训练参数保存模块中预存的训练参数对DDR存储单元的访问通道进行配置，并在配置完毕后向IO控制模块发送停止自刷新控制指令；芯片总控模块芯片总控模块按照预设的调试策略从芯片的主数据通道调用DDR控制及接口模块通过IO控制模块访问DDR存储单元，获取存储在DDR存储单元内的现场数据。

主权项

一种获取芯片调试数据的方法，其特征在于，所述方法应用于一芯片，所述芯片与外部双倍速率同步动态随机存储器DDR存储单元相连接，所述芯片包括：芯片总控模块，IO控制模块、访问命令记录模块、DDR控制及接口模块和DDR训练参数保存模块；所述方法包括：所述芯片总控模块确定所述芯片处于死机状态时，触发所述IO控制模块通过强制更改所述DDR存储单元的IO电平状态控制所述DDR存储单元进行自刷新；所述芯片总控模块根据所述IO控制模块接收到的复位请求命令按照预设的复位序列控制芯片进行复位；所述DDR控制及接口模块在复位后根据所述DDR训练参数保存模块中预存的训练参数对所述DDR存储单元的访问通道进行配置，并在配置完毕后向所述IO控制模块发送停止自刷新控制指令；所述芯片总控模块按照预设的调试策略从所述芯片的主数据通道调用所述DDR控制及接口模块通过所述IO控制模块访问所述DDR存储单元，获取存储在所述DDR存储单元内的现场数据。