[发明专利]一种In掺杂MoO3薄膜的制备方法及其在QLED中的应用有效

专利信息
申请号: 201610242575.3 申请日: 2016-04-19
公开(公告)号: CN105789467B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 王宇;曹蔚然;杨一行;钱磊 申请(专利权)人: TCL集团股份有限公司
主分类号: H01L51/50 分类号: H01L51/50;H01L51/56;H01L51/52
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种In掺杂MoO3薄膜的制备方法及其在QLED中的应用。所述In掺杂MoO3薄膜的制备方法,包括以下步骤:提供铟盐和MoO3,将所述铟盐和MoO3溶于有机溶剂中形成混合溶液,在所述混合溶液中加入无机酸后进行加热处理,得到前驱体溶液,其中,所述加热处理的温度为50‑80℃;提供基底,将所述前驱体溶液采用溶液加工方法沉积在所述基底上,然后进行退火处理,得到In掺杂MoO3薄膜,其中,所述退火温度为150‑350℃,时间为15‑30min。
搜索关键词: 一种 in 掺杂 moo sub 薄膜 制备 方法 及其 qled 中的 应用
【主权项】:
1.一种QLED,包括依次层叠设置的阳极、空穴注入层、量子点发光层和阴极,其特征在于,所述空穴注入层为In掺杂MoO3薄膜,所述In掺杂MoO3薄膜的制备方法,包括以下步骤:提供铟盐和MoO3,将所述铟盐和MoO3溶于有机溶剂中形成混合溶液,在所述混合溶液中加入无机酸后进行加热处理,得到前驱体溶液,其中,所述加热处理的温度为50‑80℃;提供基底,将所述前驱体溶液采用溶液加工方法沉积在所述基底上,然后进行退火处理,得到In掺杂MoO3薄膜,其中,所述退火温度为150‑350℃,时间为15‑30min。
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