[发明专利]一种飞针测试机的校正方法

摘要

本发明提供一种飞针测试机的校正方法，本飞针测试机设有第一测试轴、第二测试轴、第三测试轴、以及第四测试轴，其中，每个测试轴均设有探针和与探针对应的CCD相机，根据本校正方法计算出每个探针的针尖与对应CCD相机中心之间的偏移量、以及正面探针之间和反面探针之间在X方向上的总行程。根据上述校正方法，快速准确的获取飞针测试机的每个探针的针尖与对应的CCD相机的中心之间的偏移量，以及飞针测试机的正面探针X轴总行程和反面探针X轴总行程，本方法采取简单有效的步骤，在保证对针校正精度的情况下实现测试轴的快速对针校正。

主权项

1.一种飞针测试机的校正方法，本飞针测试机设有第一测试轴、第二测试轴、第三测试轴、以及第四测试轴，其中，第一测试轴设有第一探针和第一CCD相机，第二测试轴设有第二探针和第二CCD相机，第三测试轴设有第三探针和第三CCD相机，第四测试轴设有第四探针和第四CCD相机，其中，第一探针和第二探针为在待测PCB板上的正面测试探针，第三探针和第四探针为在待测PCB板上的反面测试探针，其特征在于，本校正方法包括如下步骤：第一步：取一具有多个镀铜孔的待测PCB板，在该PCB板上选取一个镀铜孔；第二步：移动第一测试轴，得到第一CCD相机的中心相对于所述镀铜孔的实际机械坐标；根据第三CCD相机的中心相对此镀铜孔反面的理论机械坐标，微调第三CCD相机的位置，得到第三CCD相机的中心相对此镀铜孔的实际机械坐标；第三步：第三CCD相机在X方向上平移距离ΔL，然后第一测试轴的第一探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第一测试轴的位置，得到第一探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第一探针的针尖与第一CCD相机的中心之间的偏移量；第四步：移动第二测试轴，得到该第二CCD相机的中心相对所述镀铜孔的实际机械坐标；然后第二测试轴的第二探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第二测试轴的位置，得到第二探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第二探针的针尖与第二CCD相机的中心之间的偏移量和第一探针和第二探针在X方向上总行程；第五步：第一测试轴的第一CCD相机移动到第三测试轴的第三CCD相机的前方，利用同样的方法，计算出第三探针的针尖与第三CCD相机中心之间的偏移量、第四探针的针尖与第四CCD相机中心之间的偏移量、以及第三探针和第四探针在X方向上的总行程。