[发明专利]一种飞针测试机的校正方法

说明书

本发明提供一种飞针测试机的校正方法，本飞针测试机设有第一测试轴、第二测试轴、第三测试轴、以及第四测试轴，其中，每个测试轴均设有探针和与探针对应的CCD相机，根据本校正方法计算出每个探针的针尖与对应CCD相机中心之间的偏移量、以及正面探针之间和反面探针之间在X方向上的总行程。根据上述校正方法，快速准确的获取飞针测试机的每个探针的针尖与对应的CCD相机的中心之间的偏移量，以及飞针测试机的正面探针X轴总行程和反面探针X轴总行程，本方法采取简单有效的步骤，在保证对针校正精度的情况下实现测试轴的快速对针校正。

技术领域

本发明涉及一种印制电路板(PCB)测试设备的对针校正方法，特别涉及一种飞针测试机的校正方法。

背景技术

多轴飞针测试机由四个完全独立的移动测试针组成，在软件的控制下在被测PCB板两面(正面2根探针反面2根探针)进行三维运动并接触到待测点，电测板卡通过给测试针施加一定的电压、电流，得到不同的测试信号，从而判断待测PCB板网络的通断情况。

飞针测试机(测试探针)在测试过程中要求测试轴有高速度、高精度、测试范围广的特点。飞针测试机测试的精度主要取决于对位的精度，由于有些PCB板的测试点并非完全的圆形或方形，这就给飞针测试机对位带来很大的难度。

飞针测试机在实际测试之前，首先测试软件需要选取正反各两个对位点，然后需要每个探针下方的CCD相机的十字靶对准对位点的中心，但是CCD相机与探针存在一定的位置偏移量，虽然在机械装配时，CCD相机与探针之间有一个默认的偏移量，但是这个默认的偏移量与实际的偏移量还是存在一定的误差，而PCB板测试点比较小，测试点距离比较近，这个误差足以影响到探针扎针精度，很有可能扎不住测试点从而造成误测，故，需要进行对针校正。

发明内容

本发明的目的在于提供一阵采用简单有效的步骤、在保证对针校正精度的情况下实现测试轴的快速校正的飞针测试机的校正方法。

本发明提供一种飞针测试机的校正方法，本飞针测试机设有第一测试轴、第二测试轴、第三测试轴、以及第四测试轴，其中，第一测试轴设有第一探针和第一CCD相机，第二测试轴设有第二探针和第二CCD相机，第三测试轴设有第三探针和第三CCD相机，第四测试轴设有第四探针和第四CCD相机，其中，第一探针和第二探针为在待测PCB板上的正面测试探针，第三探针和第四探针为在待测PCB板上的反面测试探针，本校正方法包括如下步骤：

第一步：取一具有多个镀铜孔的待测PCB板，在该PCB板上选取一个镀铜孔；

第二步：移动第一测试轴，得到第一CCD相机的中心相对于所述镀铜孔的实际机械坐标；根据第三CCD相机的中心相对此镀铜孔反面的理论机械坐标，微调第三CCD相机的位置，得到第三CCD相机的中心相对此镀铜孔的实际机械坐标；

第三步：第三CCD相机在X方向上平移距离ΔL，然后第一测试轴的第一探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第一测试轴的位置，得到第一探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第一探针的针尖与第一CCD相机的中心之间的偏移量；

第四步：移动第二测试轴，得到该第二CCD相机的中心相对所述镀铜孔的实际机械坐标；然后第二测试轴的第二探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第二测试轴的位置，得到第二探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第二探针的针尖与第二CCD相机的中心之间的偏移量和第一探针和第二探针在X方向上总行程；

第五步：第一测试轴的第一CCD相机移动到第三测试轴的第三CCD相机的前方，利用同样的方法，计算出第三探针的针尖与第三CCD相机中心之间的偏移量、第四探针的针尖与第四CCD相机中心之间的偏移量、以及第三探针和第四探针在X方向上的总行程。