[发明专利]一种飞针测试机的校正方法

权利要求书

1.一种飞针测试机的校正方法，本飞针测试机设有第一测试轴、第二测试轴、第三测试轴、以及第四测试轴，其中，第一测试轴设有第一探针和第一CCD相机，第二测试轴设有第二探针和第二CCD相机，第三测试轴设有第三探针和第三CCD相机，第四测试轴设有第四探针和第四CCD相机，其中，第一探针和第二探针为在待测PCB板上的正面测试探针，第三探针和第四探针为在待测PCB板上的反面测试探针，其特征在于，本校正方法包括如下步骤：

第一步：取一具有多个镀铜孔的待测PCB板，在该PCB板上选取一个镀铜孔；

第二步：移动第一测试轴，得到第一CCD相机的中心相对于所述镀铜孔的实际机械坐标；根据第三CCD相机的中心相对此镀铜孔反面的理论机械坐标，微调第三CCD相机的位置，得到第三CCD相机的中心相对此镀铜孔的实际机械坐标；

第三步：第三CCD相机在X方向上平移距离ΔL，然后第一测试轴的第一探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第一测试轴的位置，得到第一探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第一探针的针尖与第一CCD相机的中心之间的偏移量；

第四步：移动第二测试轴，得到该第二CCD相机的中心相对所述镀铜孔的实际机械坐标；然后第二测试轴的第二探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的焦距内，接着微调第二测试轴的位置，得到第二探针的针尖相对第三CCD相机中心的实际机械坐标；计算第二探针的针尖与第二CCD相机的中心之间的偏移量和第一探针和第二探针在X方向上总行程；

第五步：第一测试轴的第一CCD相机移动到第三测试轴的第三CCD相机的前方，利用同样的方法，计算出第三探针的针尖与第三CCD相机中心之间的偏移量、第四探针的针尖与第四CCD相机中心之间的偏移量、以及第三探针和第四探针在X方向上的总行程。

2.根据权利要求1所述的飞针测试机的校正方法，其特征在于：所述镀铜孔位于待测PCB板的右边。

3.根据权利要求1所述的飞针测试机的校正方法，其特征在于：所述第三步中的第三CCD相机在X方向上向右平移距离ΔL。

4.根据权利要求1-3任一所述的飞针测试机的校正方法，其特征在于：所述第二步包括如下具体步骤：

步骤B1：移动第一测试轴，使第一CCD相机的中心对准该镀铜孔正面的中心，得到此时第一CCD相机的中心的实际机械坐标(CCD1.x，CCD1.y)；

步骤B2：根据第一测试轴和第三测试轴在本飞针测试机内的位置关系，飞针测试机内的测试软件计算出第三测试轴的第三CCD相机的中心到此镀铜孔反面的理论机械坐标(SolderLInil-CCD1.x，CCD1.y)；

步骤B3：第三测试轴的第三CCD相机移动到此镀铜孔的反面；

步骤B4：对第三CCD相机的位置进行微调，使第三CCD相机的中心对准该镀铜孔反面的中心，得到第三CCD相机的中心的实际机械坐标(CCD3.x，CCD3.y)。

5.根据权利要求1-3任一所述的飞针测试机的校正方法，其特征在于：所述第三步包括如下具体步骤：

步骤C1：第三测试轴的第三CCD相机在X方向上平移距离ΔL，飞针测试机的测试软件计算出第一探针的针尖到第三CCD相机中心的坐标位置(CCD1.x+ΔL-Tip1CCDinit.x，CCD1.y-Tip1CCDinit.y)；步骤C2：第一测试轴的第一探针移动到第三测试轴的第三CCD相机的前方；

步骤C3：第一测试轴的第一探针在第三测试轴的第三CCD相机的焦距内；

步骤C4：微调第一测试轴的位置，使第三测试轴的第三CCD相机的中心对准第一测试轴的第一探针的针尖，得到此时第一探针的针尖实际机械坐标(Tip1.x，Tip1.y)，第一测试轴回零；

步骤C5：计算第一探针的针尖与第一CCD相机的中心之间的偏移量(Tip1CCD.x，Tip1CCD.y)，其中，Tip1CCD.x＝||Tip1.x-CCD1.x|-ΔL|，Tip1CCD.y＝|Tip1.y-CCD1.y|。