[发明专利]探测器调试方法及装置有效
申请号: | 201610223800.9 | 申请日: | 2016-04-12 |
公开(公告)号: | CN107290136B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 苏丽娟;袁艳;赵丁 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01M11/04 | 分类号: | G01M11/04 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种探测器调试方法及装置,其中,该方法包括:构建调试系统,调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面;将成像系统置于参考平面;调整成像系统中的全色成像模块探测器的第一旋转角度和调整成像系统中的光场光谱成像模块探测器的第二旋转角度;分别获取在不同的第一旋转角度和第二旋转角度下,全色成像模块探测器和光场光谱成像模块探测器上的成像位置图像;根据成像位置图像确定全色成像模块探测器和光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量。该方法能够有效控制两个探测器的相对旋转角度,保证较小的旋转误差和测定图像的位移误差。 | ||
搜索关键词: | 探测器 调试 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种探测器调试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,构建调试系统,所述调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面;S2,将成像系统置于所述参考平面;S3,调整所述成像系统中的全色成像模块探测器的第一旋转角度和调整所述成像系统中的光场光谱成像模块探测器的第二旋转角度;S4,分别获取在不同的所述第一旋转角度和所述第二旋转角度下,所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器上的成像位置图像;S5,根据所述成像位置图像确定所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量。
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