[发明专利]探测器调试方法及装置

说明书

本发明公开了一种探测器调试方法及装置，其中，该方法包括：构建调试系统，调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面；将成像系统置于参考平面；调整成像系统中的全色成像模块探测器的第一旋转角度和调整成像系统中的光场光谱成像模块探测器的第二旋转角度；分别获取在不同的第一旋转角度和第二旋转角度下，全色成像模块探测器和光场光谱成像模块探测器上的成像位置图像；根据成像位置图像确定全色成像模块探测器和光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量。该方法能够有效控制两个探测器的相对旋转角度，保证较小的旋转误差和测定图像的位移误差。

技术领域

本发明涉及光学成像技术领域，尤其涉及一种探测器调试方法及装置。

背景技术

成像光谱仪是作为遥感探测技术之一，可以获取的景物或目标光谱信息，在目标识别、特征提取和精确分类等领域具有广泛的应用价值。其中光场光谱成像技属于一次曝光即获取目标完整数据立方体的快照型成像光谱技术，在动态目标监测和追踪方面快照型成像光谱技术具有优势和广泛的应用前景。另一方面，光场成像光谱技术由于需将三维数据投影到二维探测器上，其获得的目标场景空间分辨率大大降低。人们提出了共光路组合式光场光谱成像方法，一个反射光路获得高空间分辨率的全色图像，一个透射光路获得光场光谱图像，后续进行图像融合获得高空间分辨率的光谱数据立方体。但是，由于系统两个光路对应各自独立的探测器，而探测器的装配误差会导致融合图像之间存在位移和旋转误差，进而会影响图像融合的效果。

发明内容

本发明的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种探测器调试方法。该方法能够有效控制两个探测器的相对旋转角度，保证较小的旋转误差和测定图像的位移误差，进而融合图像的效果很好。

本发明的第二个目的在于提出了一种探测器调试装置。

为达上述目的，本发明第一方面实施例的探测器调试方法，包括以下步骤：S1，构建调试系统，所述调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面；S2，将成像系统置于所述参考平面；S3，调整所述成像系统中的全色成像模块探测器的第一旋转角度和调整所述成像系统中的光场光谱成像模块探测器的第二旋转角度；S4，分别获取在不同的所述第一旋转角度和所述第二旋转角度下，所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器上的成像位置图像；S5，根据所述成像位置图像确定所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量。

本发明实施例的探测器调试方法，首先构建调试系统，再将被调整成像系统置于构建调试系统的参考平面进而然后调整全色成像模块探测器和光场光谱成像模块探测器的成像位置图像并分别计算出相对旋转角度以及相对位移量。该方法能够有效控制两个探测器的相对旋转角度，保证较小的旋转误差和测定图像的位移误差。

在本发明的一个实施例中，所述构建调试系统，所述调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面具体包括所述调试系统包括自准直仪、多齿分度台、多维调整台和方晶台，所述多齿分度台设置于水平平台上，所述多维调整台设置在所述多齿分度台上，所述方晶台设置在所述多维调整台上；将所述成像系统置于所述多维调整台上，所述成像系统接收所述自准直仪发出的激光束。

在本发明的一个实施例中，所述多维调整台为四维调整台，将被调整成像系统置于所述四维调整台上，所述被调整成像系统接收所述自准直仪发出的十字叉丝，所述多齿分度台绕二维空间中的Y轴旋转，以使全色成像模块探测器左右边缘区域分别对所述十字叉丝进行成像为第一十字叉丝图像和第二十字叉丝图像和使光场光谱成像模块探测器左右边缘区域分别对所述十字叉丝进行成像为第三十字叉丝图像和第四十字叉丝图像。