[发明专利]探测器调试方法及装置

权利要求书

1.一种探测器调试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，构建调试系统，所述调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面；

S2，将成像系统置于所述参考平面；

S3，调整所述成像系统中的全色成像模块探测器的第一旋转角度和调整所述成像系统中的光场光谱成像模块探测器的第二旋转角度；

S4，分别获取在不同的所述第一旋转角度和所述第二旋转角度下，所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器上的成像位置图像；

S5，根据所述成像位置图像确定所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量。

2.如权利要求1所述的探测器调试方法，其特征在于，所述构建调试系统，所述调试系统获得与自准直仪出射激光平行的参考平面具体包括：

所述调试系统包括自准直仪、多齿分度台、多维调整台和方晶台，所述多齿分度台设置于水平平台上，所述多维调整台设置在所述多齿分度台上，所述方晶台设置在所述多维调整台上；

将所述成像系统置于所述多维调整台上，所述成像系统接收所述自准直仪发出的激光束。

3.如权利要求2所述的探测器调试方法，其特征在于，所述多维调整台为四维调整台，将成像系统置于所述四维调整台上，所述成像系统接收所述自准直仪发出的十字叉丝，所述多齿分度台绕二维空间中的Y轴旋转，以使全色成像模块探测器左右边缘区域分别对所述十字叉丝进行成像为第一十字叉丝图像和第二十字叉丝图像和使光场光谱成像模块探测器左右边缘区域分别对所述十字叉丝进行成像为第三十字叉丝图像和第四十字叉丝图像。

4.如权利要求3所述的探测器调试方法，其特征在于，所述多维调整台为四维调整台，根据所述成像位置图像确定所述全色成像模块探测器和所述光场光谱成像模块探测器的相对旋转角度和相对位移量具体包括：

读取所述第一十字叉丝图像和所述第二十字叉丝图像并进行拟合计算获得所述十字叉丝的第一水平直线v_水平＝a₁μ+b₁、第一竖直线v_竖直＝a₂μ+b₂、第二水平直线v_水平＝a₃μ+b₃和第二竖直线v_竖直＝a₄μ+b₄，其中，a₁、a₂、b₁和b₂分别为所述第一水平直线和所述第一竖直线的数学系数，a₃、a₄、b₃和b₄分别为所述第二水平直线和所述第二竖直线的数学系数，μ为方向系数，并分别计算出所述第一水平直线和所述第一竖直线的第一交点坐标为S₁(μ_S1',ν_S1)和所述第二水平直线和所述第二竖直线的第二交点坐标为S₂(μ_S2',ν_S2)；

读取所述第三十字叉丝图像和所述第四十字叉丝图像并进行拟合计算获得所述十字叉丝的第三水平直线t_水平＝a₅r+b₅、第三竖直线t_竖直＝a₆r+b₆、第四水平直线t_水平＝a₇r+b₇和第四竖直线t_竖直＝a₈r+b₈，其中，a₅、a₆、b₅和b₆分别为所述第三水平直线和所述第三竖直线的数学系数，a₇、a₈、b₇和b₈分别为所述第四水平直线和所述第四竖直线的数学系数，μ为方向系数，并分别计算出所述第三水平直线和所述第三竖直线的第三交点坐标P₁(r_P1',t_P1)和所述第四水平直线和所述第四竖直线的第四交点坐标P₂(r_P2',t_P2)；

所述全色成像模块探测器与四维调整台的夹角Δβ为：所述光场光谱成像模块探测器与所述四维调整台的夹角Δγ为：