[发明专利]一种半导体器件及其制作方法和电子装置有效

专利信息
申请号: 201610204360.2 申请日: 2016-04-01
公开(公告)号: CN107293586B 公开(公告)日: 2020-03-10
发明(设计)人: 张海洋;刘盼盼 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L29/775 分类号: H01L29/775;B82B3/00;B82B1/00;B82Y10/00
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;冯永贞
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种半导体器件及其制作方法和电子装置。所述方法包括:提供基底,在所述基底上形成有若干相互间隔的鳍片,在所述鳍片的表面依次形成有绝缘层和牺牲层;在所述基底上形成覆盖层并回蚀刻,以露出所述鳍片顶部的所述牺牲层;在露出的所述牺牲层的顶部上生长包括导电材料的纳米量子点,其中所述纳米量子点内嵌入所述牺牲层下方的所述绝缘层中,以得到基于纳米量子点的沟道。本发明在所述制备过程中在所述鳍片上形成绝缘层和牺牲层,然后在所述牺牲层的顶部生长包括导电材料的纳米量子点,其中,所述纳米量子点形成于纳米管的绝缘层上方,从而克服了现有技术中半导体材料尺寸的限制,可以进一步减小器件的尺寸同时还能保证良好的性能。
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制作方法 电子 装置
【主权项】:
一种半导体器件的制备方法,其特征在于,所述方法包括:提供基底,在所述基底上形成有若干相互间隔的鳍片,在所述鳍片的表面依次形成有绝缘层和牺牲层;在所述基底上形成覆盖层并回蚀刻,以露出所述鳍片顶部的所述牺牲层;在露出的所述牺牲层的顶部上生长包括导电材料的纳米量子点,其中所述纳米量子点内嵌入所述牺牲层下方的所述绝缘层中,以得到基于纳米量子点的沟道。
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