[发明专利]一种阵列基板的制备方法有效
| 申请号: | 201610065825.0 | 申请日: | 2016-01-29 |
| 公开(公告)号: | CN105511176B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
| 发明(设计)人: | 张锋;曹占锋;姚琪 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/1343 | 分类号: | G02F1/1343;G02F1/1333;H01L21/77 |
| 代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 张恺宁 |
| 地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种阵列基板的制备方法,涉及显示技术领域,特别涉及阵列基板的制备方法,以解决现有技术在ITO薄膜图案化的过程中,在对ITO薄膜图案进行刻蚀时,ITO薄膜容易发生残留,从而影响液晶显示面板的显示特性的问题。本发明提供一种阵列基板的制备方法,在衬底基板上形成ITO薄膜图形的步骤包括:在ITO薄膜上形成预定的光刻胶图案;采用等离子处理工艺对裸露的ITO薄膜表面进行处理,使ITO薄膜表面析出金属In;对ITO薄膜进行刻蚀,以形成ITO图形。由于本发明在对ITO薄膜进行刻蚀之前,使ITO薄膜析出金属In,金属In刻蚀速率更高,因此能加快ITO薄膜的刻蚀速率,减少了ITO薄膜刻蚀的残留物。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制备方法,其特征在于,在衬底基板上形成铟锡氧化物ITO薄膜图形的步骤包括:在铟锡氧化物ITO薄膜上形成预定的光刻胶图案;采用等离子混合气体对裸露的所述铟锡氧化物ITO薄膜表面进行处理,使所述铟锡氧化物ITO薄膜发生雾化后表面析出金属铟In,金属铟In刻蚀速率高,加快铟锡氧化物ITO薄膜的刻蚀速率;对所述铟锡氧化物ITO薄膜表面进行刻蚀,以形成铟锡氧化物ITO图形;其中,在铟锡氧化物ITO薄膜上形成预定的光刻胶图案,包括:在衬底基板上依次形成所述铟锡氧化物ITO薄膜和金属层;在所述金属层上形成光刻胶层;利用半灰阶掩膜版,通过一次构图工艺形成所述光刻胶层的完全去除区,部分保留区和完全保留区;用等离子混合气体对裸露的所述铟锡氧化物ITO薄膜表面进行处理之前,还包括:对所述铟锡氧化物ITO薄膜表面上的金属层进行第一次刻蚀;在对所述铟锡氧化物ITO薄膜表面进行刻蚀,以形成铟锡氧化物ITO图形后,还包括:灰化工艺去除所述部分保留区中的光刻胶,并减薄所述完全保留区中的光刻胶的厚度;对所述金属层进行第二次刻蚀以形成栅极图形。
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