[发明专利]多功能芯片内置的测试电路有效
| 申请号： | 201610005403.4 | 申请日： | 2016-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN106940423B | 公开（公告）日： | 2023-02-24 |
| 发明（设计）人： | 丁东民;周盛;金翔;吴刚 | 申请（专利权）人： | 华润微集成电路（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 李彦波;张雪梅 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种多功能芯片内置的测试电路，该测试电路包括判断电路、时钟选择电路、测试下拉电路和下拉脉冲电路；判断电路包括第一D触发器、第二D触发器、第一反相器、第二反相器、第三反相器、以及与非门；时钟选择电路包括二选一电路和第四反相器；测试下拉电路包括第一NMOS管和第二NMOS管；下拉脉冲电路包括D锁存器、第五反相器和或非门。所述测试电路括判断电路、时钟选择电路、测试下拉电路和下拉脉冲电路，只用一个测试端口即可实现现有技术的常规电路采用三个端口方可实现的三种测试功能，从而能够避免芯片内部的测试电路对芯片资源的浪费，进而能够降低芯片的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 多功能 芯片 内置 测试 电路 | ||
【主权项】：
多功能芯片内置的测试电路，其特征在于，该测试电路包括判断电路、时钟选择电路、测试下拉电路和下拉脉冲电路；判断电路包括第一D触发器、第二D触发器、第一反相器、第二反相器、第三反相器、以及与非门；时钟选择电路包括二选一电路和第四反相器；测试下拉电路包括第一NMOS管和第二NMOS管；下拉脉冲电路包括D锁存器、第五反相器和或非门。
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