[发明专利]X射线检查装置、X射线检查方法及构造物的制造方法有效
| 申请号： | 201580079138.8 | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN107533018B | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 八嶋紘宽;道本隆裕;坂口直史 | 申请（专利权）人： | 株式会社尼康 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046;G01N23/18;G01N23/083 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 日本东京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | X射线检查装置具备：射线源，用于向旋转的检查对象照射X射线；检测器，用于检测从射线源发射并透射检查对象的透射X射线，并针对每个旋转角度，输出多个检测数据；区域提取单元，用于使用多个检测数据，提取检查对象投影在检测器上的区域。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 方法 构造 制造 | ||
【主权项】：
暂无信息
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