[发明专利]光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法有效
| 申请号： | 201580060686.6 | 申请日： | 2015-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN106999165B | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 石井稔浩;高桥阳一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | A61B10/00 | 分类号： | A61B10/00;G01N21/17 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 赵碧洋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种光学传感器。所述光学传感器具有包含至少一个光发射装置的发射系统，所述至少一个光发射装置将光发射到对象上；以及检测系统，其检测已经由发射系统发射并且已经通过对象传播的光。所述光发射装置能够将具有不同波长的多个光束发射到对象的基本相同的位置上。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 传感器 测试 设备 以及 特性 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光学传感器，包括：发射系统，包含将光发射到对象上的至少一个光发射装置；以及检测系统，检测已经由所述发射系统发射并且已经通过所述对象传播的光，其中所述光发射装置能够将具有不同波长的多个光束发射到所述对象的基本相同的位置上。
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