[发明专利]光学传感器、光学测试设备以及光学特性检测方法有效
申请号: | 201580060686.6 | 申请日: | 2015-10-29 |
公开(公告)号: | CN106999165B | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 石井稔浩;高桥阳一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | A61B10/00 | 分类号: | A61B10/00;G01N21/17 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 赵碧洋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 传感器 测试 设备 以及 特性 检测 方法 | ||
提供一种光学传感器。所述光学传感器具有包含至少一个光发射装置的发射系统,所述至少一个光发射装置将光发射到对象上;以及检测系统,其检测已经由发射系统发射并且已经通过对象传播的光。所述光发射装置能够将具有不同波长的多个光束发射到对象的基本相同的位置上。
技术领域
本发明涉及光学传感器、光学测试设备以及光学特征检测方法,并且特别地,所述光学传感器包含发射系统,其发射光到受测对象(对象)上,以及检测系统,其检测由所述发射系统发射并且已经公共所述受测对象传播的光;所述光学测试设备包含所述光学传感器;并且所述光学特性检测方法使用所述光学传感器。
背景技术
通常,已知用于活体的光学测量设备,其通过发射光至受测对象(活体)上并检测已经通过受测对象传播的光,来测量受测对象中的信息(例如,参照专利文件1)。
公开于专利文件1中的用于活体的光学测量设备不能够高精度地测量受测对象中的信息。
发明内容
本发明的实施例公开了包含发射系统和检测系统的光学传感器,其中所述发射系统包含发射光至受测对象上的至少一个光发射装置,并且其中所述检测系统检测由所述发射系统发射并且通过所述受测对象传播的光,所述光发射装置能够将具有不同波长的多个光束发射到所述受测对象的基本相同的位置上。
根据本发明的实施例,可以高精度地测量受测对象中的信息。
附图说明
图1为示出了根据本发明的第一实施例的光学测试设备的示意配置的图。
图2为示出用于体模(phantom)的水箱的图。
图3为示出透明窗的布局的图。
图4为示出了根据示例1的光源模块的示意配置的第一图。
图5为示出了根据示例1的检测模块的示意配置的图。
图6为示出了根据示例1的光源模块的示意配置的第二图。
图7为示出体内传播角度的图。
图8为示出用于测量受测对象中的信息的方法的流程图。
图9为涉及逆向问题估计算法的流程图。
图10为示出光电二极管(PD)中的灵敏度分布的第一图。
图11为示出PD中的灵敏度分布的第二图。
图12为示出体内传播角度的图。
图13A为示出吸光体的实际位置的图。
图13B为示出吸光体的位置的估计结果的图。
图13C为示出在对照示例中的吸光体的位置的检测结果的图。
图14A为示出移动之后的吸光体的实际位置的图。
图14B为示出移动之后的吸光体的位置的估计结果的图。
图14C为示出在对照示例中的吸光体的位置的检测结果的图。
图15为示出了根据示例2的光学传感器中的多个光源模块和多个检测模块的布置的图。
图16为示出了根据示例2的光源模块LM(类型I)的图。
图17为示出了根据示例2的光源模块LM(类型I)的表面发射激光器阵列芯片的图。
图18A为示出了根据示例2的光源模块ML(类型II)的第一图。
图18B为示出了根据示例2的光源模块ML(类型II)的第二图。
图19为示出了根据示例2的光源模块LM(类型III)的图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201580060686.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有交错列的微加工超声换能器的导管换能器
- 下一篇:一种多功能书写姿势矫正器