[发明专利]抗腐蚀减量系统在审
申请号: | 201580055947.5 | 申请日: | 2015-09-15 |
公开(公告)号: | CN107078079A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 戈文达·瑞泽;默尼卡·阿咖瓦;哈米德·毛希丁;卡泽拉·R·纳伦德瑞纳斯 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金国,赵静 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本文披露的实施方式包括等离子体源以及用于减少半导体处理中产生的化合物的减量系统。在一个实施方式中,披露一种等离子体源。等离子体源包括具有入口和出口的主体,并且所述入口和所述出口流体耦接于所述主体内。所述主体进一步包括内表面,并且所述内表面以氧化钇或类金刚石碳涂覆。等离子体源进一步包括分流器和等离子体产生器,所述分流器设置于主体中的一位置,使得在入口与出口之间形成两个流动路径,等离子体产生器设置于一位置,从而可操作性地于分流器与主体的内表面之间的主体内形成等离子体。 | ||
搜索关键词: | 腐蚀 系统 | ||
【主权项】:
一种等离子体源,包括:主体,所述主体包括入口和出口,其中所述入口与所述出口流体耦接于所述主体内,并且其中所述主体进一步包括内表面,并且所述内表面以氧化钇或类金刚石碳涂覆;分流器,所述分流器设置于所述主体内的一位置,使得在所述入口与所述出口之间形成两个流动路径;和等离子体产生器,所述等离子体产生器设置于一位置,从而可操作性地于所述分流器与所述主体的所述内表面之间的所述主体内形成等离子体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580055947.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种培训用门系统操作装置
- 下一篇:一种教学用激光笔
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造