[实用新型]一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置有效

专利信息
申请号: 201521128293.8 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN205246574U 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 杨振;杨剑 申请(专利权)人: 苏州三值精密仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 代理人: 刘俊
地址: 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,包括装置主体与外部的壳体,装置主体内设置有一隔板,隔板上侧为样品室,隔板下侧为检测室,检测室内设置有光管、准直器、测试腔体、探测器及高压组件;光管设置于光管支架上,光管的上方设置有准直器,准直器与光管垂直设置,并设置于准直器座上,光管的上方还设置有准直器复位开关;测试腔体设置于光管的上方,且与探测器、光管连通,探测器设置于测试腔体的一侧,高压组件设置于光管的一端。本实用新型结构设计合理,结构简单,便于组装拆卸维修,监测方便安全,检出方便安全、灵活快捷、测量精度高、稳定性及重复性好,可以用于稻米中痕量元素的分析。
搜索关键词: 一种 应用于 稻米 痕量 元素 分析 射线 检测 装置
【主权项】:
一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,该X射线检测装置包括装置主体与套设在装置主体外部的壳体,所述装置主体内设置有一隔板,所述隔板上侧为样品室,隔板下侧为检测室,所述检测室内设置有一光管、一准直器、一测试腔体、一探测器及高压组件;所述光管设置于光管支架上,所述光管的上方设置有准直器,所述准直器与光管垂直设置,并设置于准直器座上,所述光管的上方还设置有准直器复位开关;所述测试腔体设置于光管的上方,且与探测器、光管连通,所述探测器设置于测试腔体的一侧,所述高压组件设置于光管的一端。
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