[实用新型]一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置有效
申请号: | 201521128293.8 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN205246574U | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | 杨振;杨剑 | 申请(专利权)人: | 苏州三值精密仪器有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 刘俊 |
地址: | 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 应用于 稻米 痕量 元素 分析 射线 检测 装置 | ||
1.一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,该X射线检测装置包括装置主体与套设在装置主体外部的壳体,所述装置主体内设置有一隔板,所述隔板上侧为样品室,隔板下侧为检测室,所述检测室内设置有一光管、一准直器、一测试腔体、一探测器及高压组件;
所述光管设置于光管支架上,所述光管的上方设置有准直器,所述准直器与光管垂直设置,并设置于准直器座上,所述光管的上方还设置有准直器复位开关;所述测试腔体设置于光管的上方,且与探测器、光管连通,所述探测器设置于测试腔体的一侧,所述高压组件设置于光管的一端。
2.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,该X射线检测装置还包括与壳体连接位于壳体顶部的顶盖、与壳体连接位于壳体底面的底座,所述底座底部设置有四个底脚,壳体的正面上设置有电源指示灯以及高压指示灯。
3.根据权利要求1或2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述探测器设置于探测器支架上。
4.根据权利要求1或2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述样品室内设置有样品杯,所述样品杯的形状与测试腔体内的凹槽形状一致。
5.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述光管为圆柱形,光管支架上设置有与光管外形尺寸配合的凹槽形盖,所述凹槽形盖与光管支架螺纹连接。
6.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述准直器复位开关设置于准直器复位开关支架上,并与一电机连接。
7.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述顶盖采用双侧气拉杆支撑,所述气拉杆固定在壳体上,所述顶盖上还设置有一拉手。
8.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述壳体与顶盖、底座均通过螺纹连接。
9.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述光管的另一端设置有电源。
10.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述底座上还设置有USB支架与电源插座支架。
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