[实用新型]一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置有效

专利信息
申请号: 201521128293.8 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN205246574U 公开(公告)日: 2016-05-18
发明(设计)人: 杨振;杨剑 申请(专利权)人: 苏州三值精密仪器有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 代理人: 刘俊
地址: 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 稻米 痕量 元素 分析 射线 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,该X射线检测装置包括装置主体与套设在装置主体外部的壳体,所述装置主体内设置有一隔板,所述隔板上侧为样品室,隔板下侧为检测室,所述检测室内设置有一光管、一准直器、一测试腔体、一探测器及高压组件;

所述光管设置于光管支架上,所述光管的上方设置有准直器,所述准直器与光管垂直设置,并设置于准直器座上,所述光管的上方还设置有准直器复位开关;所述测试腔体设置于光管的上方,且与探测器、光管连通,所述探测器设置于测试腔体的一侧,所述高压组件设置于光管的一端。

2.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,该X射线检测装置还包括与壳体连接位于壳体顶部的顶盖、与壳体连接位于壳体底面的底座,所述底座底部设置有四个底脚,壳体的正面上设置有电源指示灯以及高压指示灯。

3.根据权利要求1或2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述探测器设置于探测器支架上。

4.根据权利要求1或2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述样品室内设置有样品杯,所述样品杯的形状与测试腔体内的凹槽形状一致。

5.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述光管为圆柱形,光管支架上设置有与光管外形尺寸配合的凹槽形盖,所述凹槽形盖与光管支架螺纹连接。

6.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述准直器复位开关设置于准直器复位开关支架上,并与一电机连接。

7.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述顶盖采用双侧气拉杆支撑,所述气拉杆固定在壳体上,所述顶盖上还设置有一拉手。

8.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述壳体与顶盖、底座均通过螺纹连接。

9.根据权利要求1所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述光管的另一端设置有电源。

10.根据权利要求2所述的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置,其特征在于,所述底座上还设置有USB支架与电源插座支架。

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