[实用新型]一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种X射线检测装置，特别涉及一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置，属于X射线荧光光谱仪技术领域。

背景技术

X射线荧光光谱仪是一种在不损伤待测物体本身材质的前提下，对其本身的物质成分进行检测的探测性装置，其利用了X射线照射多组分物质表面所激发的能量色散作用，其工作效率高，一般情况下对于多组分物质的分析仅仅需要1-2分钟，所以被广泛应用于化工、冶金、食品安全等多个领域。

随着人们对粮食的营养及自身健康关注度日益提高，稻米痕量元素分析的仪器也渐渐得到普及，因此各式各样的光谱仪应运而生。但是目前市场上这些仪器普遍存在检出限达不到、稳定性及重复性不高等缺陷。

因此，如何提供一种能够具有检出限较好，同时稳定性、重复性、测量精度高的X射线检测仪器，成为了业界研发人员致力于解决的方向。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种应用于检出稻米中痕量元素的X射线检测装置，其结构简单，便于组装拆卸维修，检出方便安全、灵活快捷、测量精度高、稳定性及重复性好。

为了达到上述目的，本实用新型采取的技术方案包括：

一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置，包括装置主体与套设在装置主体外部的壳体，所述装置主体内设置有一隔板，所述隔板上侧为样品室，隔板下侧为检测室，所述检测室内设置有一光管、一准直器、一测试腔体、一探测器及高压组件；

所述光管设置于光管支架上，所述光管的上方设置有准直器，所述准直器与光管垂直设置，并设置于准直器座上，所述光管的上方还设置有准直器复位开关；所述测试腔体设置于光管的上方，且与探测器、光管连通，所述探测器设置于测试腔体的一侧，所述高压组件设置于光管的一端。

作为本实用新型的优选方案之一，该X射线检测装置还包括与壳体连接位于壳体顶部的顶盖、与壳体连接位于壳体底面的底座，所述底座底部设置有四个底脚，壳体的正面上设置有电源指示灯以及高压指示灯。

更优选的，所述探测器设置于探测器支架上。

作为优选方案之一，所述样品室内设置有样品杯，所述样品杯的形状与测试腔体内的凹槽形状一致。

具体的，所述光管为圆柱形，光管支架上设置有与光管外形尺寸配合的凹槽形盖，所述凹槽形盖与光管支架螺纹连接。

更具体的，所述准直器复位开关设置于准直器复位开关支架上，并与一电机连接。

进一步的，所述顶盖采用双侧气拉杆支撑，所述气拉杆固定在壳体上，配合完成顶盖的开启、闭合等动作。所述顶盖上还设置有一拉手，更便于顶盖的开启闭合动作。

具体的，所述壳体与顶盖、底座均通过螺纹连接。

优选的，所述光管的另一端设置有电源。

更优选的，所述底座上还设置有USB支架与电源插座支架。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

本实用新型结构设计合理，结构简单，便于组装拆卸维修，监测方便安全，检出方便安全、灵活快捷、测量精度高、稳定性及重复性好，可以用于稻米中痕量元素的分析。

附图说明

为说明本实用新型的结构，下面结合附图，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细地说明。

图1为本实用新型所公开的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置的主视图；

图2为本实用新型所公开的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置的左视图；

图3为本实用新型所公开的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置的俯视图；

图4为本实用新型所公开的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置的内部结构示意图；

图5为本实用新型所公开的一种应用于稻米中痕量元素分析的X射线检测装置的光路系统的光路示意图。

附图标记说明：1-壳体，11-顶盖，12-底座，12a-底脚，13-电源指示灯，14-高压指示灯，2-光管，20-光管支架，3-准直器，30-准直器座，31-准直器复位开关，32-准直器复位开关支架，33-电机，4-测试腔体，40-样品杯，5-探测器，50-探测器支架，6-高压组件，7-电源，8-电源插座支架，9-USB支架。

具体实施方式

下面将结合本实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行具体、清楚、完整地描述。