[实用新型]一种基板开短路测试载具有效
| 申请号： | 201521106749.0 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN205374651U | 公开（公告）日： | 2016-07-06 |
| 发明（设计）人： | 吉祥 | 申请（专利权）人： | 南通富士通微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮;郭栋梁 |
| 地址： | 226006 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基板开短路测试载具，包括：测试平台和至少一组测试探针，测试探针设置在测试平台上，测试探针能够与设置在待测基板上的焊盘进行电连接，通过测试探针能够对所述基板内部电路进行开短路测试。本实用新型是用于通过在半成品状态引入开短路(OS)测试的一种载具，通过载具上的测试探针连通待测试基板底侧焊盘，将芯片和基板内部电路导出，从而可以进行开短路(OS)测试。同时可在半成品阶段就可以判断电路开短路情况，对于异常调查、提前发现问题、质量改善有较大帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基板开 短路 测试 | ||
【主权项】：
一种基板开短路测试载具，其特征在于，包括：测试平台和至少一组测试探针，所述测试探针设置在所述测试平台上，所述测试探针能够与设置在待测基板底部的焊盘进行电连接，通过测试探针能够对所述基板的内部电路进行开短路测试。
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