[实用新型]一种基板开短路测试载具有效

专利信息
申请号: 201521106749.0 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN205374651U 公开(公告)日: 2016-07-06
发明(设计)人: 吉祥 申请(专利权)人: 南通富士通微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 孟阿妮;郭栋梁
地址: 226006 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基板开 短路 测试
【权利要求书】:

1.一种基板开短路测试载具,其特征在于,包括:测试平台和至少一组测试探针,所述测试探针设置在所述测试平台上,所述测试探针能够与设置在待测基板底部的焊盘进行电连接,通过测试探针能够对所述基板的内部电路进行开短路测试。

2.根据权利要求1所述的基板开短路测试载具,其特征在于,还包括盖板和弹簧,所述盖板通过所述弹簧连接在所述测试平台上方,所述盖板设置有供所述测试探针穿插的通孔,当通过外力向下压缩所述弹簧时,所述测试探针的自由端能够伸出所述盖板上表面与所述基板底部的焊盘进行电连接。

3.根据权利要求2所述的基板开短路测试载具,其特征在于,当所述弹簧正常支撑所述盖板时,所述测试探针的自由端不超过所述盖板上表面。

4.根据权利要求2所述的基板开短路测试载具,其特征在于,还包括真空底座,所述测试平台安装在所述真空底座的上方,所述真空底座能够对所述盖板产生向下的吸附力。

5.根据权利要求4所述的基板开短路测试载具,其特征在于,所述真空底座还包括至少一个外测试接口,所述外测试接口设置在所述真空底座侧面,所述测试探针通过导线电连接至所述外测试接口。

6.根据权利要求5所述的基板开短路测试载具,其特征在于,对应一个基板单元的多个测试探针为一个测试探针组,所述外测试接口的数目与所述测试探针组的数目相等,且同一组测试探针通过导线电连接至同一外测试接口。

7.根据权利要求6所述的基板开短路测试载具,其特征在于,所述导线为金线,所述金线用有机绝缘膜包覆。

8.根据权利要求1所述的基板开短路测试载具,其特征在于,还包括定位机构,所述定位机构设置在所述测试平台上侧能够将所述基板准确放置在所述测试平台上。

9.根据权利要求8所述的基板开短路测试载具,其特征在于,所述定位机构为至少一根定位针,所述定位针垂直设置在所述测试平台上侧,所述定位针能够插入所述基板的相应定位孔中。

10.根据权利要求9所述的基板开短路测试载具,其特征在于,所述定位针为3根,分别设置在所述测试平台上侧任意3个角落。

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